馬爾文ZEN1600系列激光粒度儀的測量原理是什么?

1、馬爾文ZEN1600系列激光粒度儀通過Mie散射原理工作。具體來說，當激光波長λ固定時，顆粒直徑D與光的散射角度α存在關(guān)聯(lián)，公式為α = π D /λ。這意味著，不同尺寸的顆粒會在特定角度下產(chǎn)生不同的散射光強度。因此，儀器會測量不同角度的散射光強度，從而推斷出樣品中不同大小顆粒的數(shù)量分布。

JJF1211-2008標準誰有啊大神們幫幫忙

1、. 目的 對實驗室非強檢的MS2000G激光粒度儀進行自校檢定，確保MS2000G激光粒度儀的技術(shù)性能完好，具有良好的準確性和精密度。 適用范圍 本規(guī)程適用于新制造、使用中修理后的、用于濕法顆粒粒徑測量的MS2000G激光粒度儀的檢定。

激光粒度分析儀檢定規(guī)程

目的對實驗室未檢定的MS2000G激光粒度儀 進行自校準，確保MS2000G激光粒度儀技術(shù)性能處于良好狀態(tài)，具有良好的準確度 和精密度。適用范圍：本程序適用于新制造的、在用修理的、用于濕式粒度測量的MS2000G激光粒度分析儀 的檢定。驗證基于國際標準13320-1：1999粒度分析-激光衍射法。

激光粒度分析儀檢定規(guī)程主要包括以下幾點：目的：對實驗室未檢定的MS2000G激光粒度儀進行自校準，確保其技術(shù)性能處于良好狀態(tài)，具有良好的準確度和精密度。適用范圍：本規(guī)程適用于新制造的、在用修理的、用于濕式粒度測量的MS2000G激光粒度分析儀的檢定。

無論是激光四輪定位儀還是紅外線四輪定位儀，雖然其測量傳感器有所不同，其最終測量對象都是光線（激光獲紅外線）的偏轉(zhuǎn)角度。

MS2000G激光粒度分析儀自帶標準樣品。驗證方法1打開儀器電源，連接電腦，預熱15-30min。

激光粒度分布儀的技術(shù)參數(shù)

激光粒度分布儀的技術(shù)參數(shù)如下：測試范圍：0.1μm 到 500μm，采用半導體激光器作為光源，波長635納米，功率3mw，具有超過25000小時的使用壽命。測試方式采用濕法，適合樣品濃度范圍為0.5‰至1%（受樣品比重、顆粒大小和折射率影響）。每次測試時間少于1分鐘，但不包括樣品分散時間。

全自動激光粒度儀是一款高精度的測量設備，專門用于測試顆粒的尺寸分布。它的測試范圍寬廣，從微小的0.04微米到巨大的500微米，都能輕松應對。光源采用高性能的半導體激光器，波長精確為635納米，功率穩(wěn)定在3毫瓦，確保了測量的準確性和一致性。

馬爾文激光粒度儀的報告分析涉及兩個關(guān)鍵參數(shù)：徑距和一致性。徑距，簡單來說，是通過計算顆粒分布寬度的差異來衡量的，具體公式為（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5），數(shù)值越大，表示顆粒大小的分布越寬廣。這個指標有助于了解樣品中不同顆粒尺寸的范圍。

在具體計算過程中，粒徑段的體積比Xi和分段粒徑值di是關(guān)鍵數(shù)據(jù)，通過這些參數(shù)，可以根據(jù)特定的分布規(guī)律，通過編程實現(xiàn)快速計算新的粒度分布。不過，這通常需要具備一定的編程基礎。

通過在不同角度測量散射光強度，即可獲得樣品的粒度分布。馬爾文 Nano ZS是常用的激光粒度儀型號，其技術(shù)參數(shù)包括粒度測量范圍從0.02微米至2000微米，以及1000次/秒的掃描速度。此外，該儀器還配備標準操作規(guī)程（SOP），并具備智能化的干濕法進樣平臺轉(zhuǎn)換功能，適應不同應用需求。

此外，通過比較不同批次或不同工藝條件下樣品的粒度分布，我們可以更好地理解工藝參數(shù)對顆粒尺寸的影響?？傊?，D50值是激光粒度儀馬爾文2000測得數(shù)據(jù)中最核心的指標之一，但它并不是唯一的參考標準。結(jié)合其他參數(shù)的分析，我們可以更全面地了解樣品的粒度特征，從而為科學研究和工業(yè)生產(chǎn)提供重要的參考依據(jù)。

激光粒度分布儀技術(shù)參數(shù)

激光粒度分布儀的技術(shù)參數(shù)如下：測試范圍：0.1μm 到 500μm，采用半導體激光器作為光源，波長635納米，功率3mw，具有超過25000小時的使用壽命。測試方式采用濕法，適合樣品濃度范圍為0.5‰至1%（受樣品比重、顆粒大小和折射率影響）。每次測試時間少于1分鐘，但不包括樣品分散時間。

全自動激光粒度儀是一款高精度的測量設備，專門用于測試顆粒的尺寸分布。它的測試范圍寬廣，從微小的0.04微米到巨大的500微米，都能輕松應對。光源采用高性能的半導體激光器，波長精確為635納米，功率穩(wěn)定在3毫瓦，確保了測量的準確性和一致性。

在具體計算過程中，粒徑段的體積比Xi和分段粒徑值di是關(guān)鍵數(shù)據(jù)，通過這些參數(shù)，可以根據(jù)特定的分布規(guī)律，通過編程實現(xiàn)快速計算新的粒度分布。不過，這通常需要具備一定的編程基礎。

馬爾文激光粒度儀的報告分析涉及兩個關(guān)鍵參數(shù)：徑距和一致性。徑距，簡單來說，是通過計算顆粒分布寬度的差異來衡量的，具體公式為（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5），數(shù)值越大，表示顆粒大小的分布越寬廣。這個指標有助于了解樣品中不同顆粒尺寸的范圍。

馬爾文激光粒度儀的報告怎么看,其中的“一致性”和“徑距”的物理意義...

1、馬爾文激光粒度儀的報告分析涉及兩個關(guān)鍵參數(shù)：徑距和一致性。徑距，簡單來說，是通過計算顆粒分布寬度的差異來衡量的，具體公式為（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5），數(shù)值越大，表示顆粒大小的分布越寬廣。這個指標有助于了解樣品中不同顆粒尺寸的范圍。

2、其次，一致性指標與數(shù)列的標準差相似，衡量的是顆粒分布偏離中心粒徑的程度。如果一致性數(shù)值較大，說明顆粒大小的分布偏離平均值的程度較高，反之則反之。在具體計算過程中，粒徑段的體積比Xi和分段粒徑值di是關(guān)鍵數(shù)據(jù)，通過這些參數(shù)，可以根據(jù)特定的分布規(guī)律，通過編程實現(xiàn)快速計算新的粒度分布。

3、徑距表明顆粒的分布寬度：（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5）。徑距越大，表明分布寬度越寬。一致性表示的是粒徑分布偏離中間的程度。意義跟數(shù)列的標準差一個意思。Xi是粒徑段的體積比。di是分段的粒徑值。d（x，0.5）是d（0.5）.這個跟具體的分布有關(guān)的。

4、遮光度表示分散介質(zhì)中所含樣品數(shù)量多少的一種度量。殘差是根據(jù)米氏理論，針對選定光學模型，光學參數(shù)和最終結(jié)果計算出的光強數(shù)據(jù)與實際檢測光強的差異。并不是越小越好，0.5與0.8殘差值并不表示0.5的殘差結(jié)果就比0.8的準確，一般認為小于3%都是可以接受的。