射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗，依照國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-6和國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626，評估電氣、電子設(shè)備對射頻場感應(yīng)傳導(dǎo)騷擾的抗擾度。主要騷擾源是150kHz至230MHz頻率范圍內(nèi)的射頻發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的電磁場。
1、電磁兼容試驗一般包括以下項目：靜電放電抗擾度試驗：用于評估設(shè)備在受到靜電放電時的性能和穩(wěn)定性。射頻電磁場輻射抗擾度試驗：測試設(shè)備在射頻電磁場輻射環(huán)境下的抗干擾能力，確保設(shè)備能正常工作。電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗：模擬電氣系統(tǒng)中的快速瞬變脈沖干擾，評估設(shè)備對此類干擾的抵抗能力。
2、電磁兼容試驗一般包括以下項目：靜電放電抗擾度試驗：用于評估設(shè)備在受到靜電放電干擾時的性能和穩(wěn)定性。射頻電磁場輻射抗擾度試驗：測試設(shè)備在射頻電磁場輻射環(huán)境下的抗干擾能力，確保設(shè)備能正常工作。電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗：模擬電氣設(shè)備在受到快速瞬變脈沖群干擾時的表現(xiàn)，評估其抗干擾性能。
3、電磁兼容試驗一般包括以下項目：靜電放電抗擾度試驗：主要評估設(shè)備在受到靜電放電干擾時的性能表現(xiàn)，確保設(shè)備在正常使用過程中不會因為靜電放電而出現(xiàn)故障或損壞。射頻電磁場輻射抗擾度試驗：測試設(shè)備在射頻電磁場輻射環(huán)境下的抗干擾能力，確保設(shè)備在存在射頻干擾的環(huán)境中仍能正常工作。
IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)，通常稱為ESD抗擾度標(biāo)準(zhǔn)，適用于尋求CE認(rèn)證標(biāo)志和產(chǎn)品認(rèn)證的商業(yè)電子設(shè)備。這個標(biāo)準(zhǔn)的完整內(nèi)容并不免費提供。靜電放電（ESD）是常見的現(xiàn)象，發(fā)生在地毯摩擦后觸摸門把手時。ESD普遍存在，尤其是對于現(xiàn)今制造的高密度電子元件如手機(jī)和電視。
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會于2019年9月1日頒布了EN IEC 61000-3-2：2019，標(biāo)準(zhǔn)對電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值進(jìn)行了規(guī)范，適用于設(shè)備每相輸入電流≤16A的電氣和電子設(shè)備，以及額定電流不大于16A的非專用電弧焊設(shè)備。
IEC 61000429是電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)的一部分，專門關(guān)注直流輸入功率點的電壓下降、短時中斷和電壓變化的抗擾試驗。以下是關(guān)于IEC 61000429的詳細(xì)介紹：標(biāo)準(zhǔn)目的：該標(biāo)準(zhǔn)旨在為設(shè)備在直流輸入功率點遭遇電壓下降、短時中斷和電壓變化時的抗擾性試驗提供統(tǒng)一的指導(dǎo)，確保設(shè)備在電網(wǎng)條件變化時仍能正常運作。
IEC 61000-4-6 是關(guān)于電磁兼容（EMC）標(biāo)準(zhǔn)的第四部分第六節(jié)，它專程探討的是測試與測量技術(shù)在應(yīng)對射頻場誘導(dǎo)的傳導(dǎo)干擾抗擾度試驗方面的實踐。這項標(biāo)準(zhǔn)主要關(guān)注電子設(shè)備在日常工作中可能遇到的電磁環(huán)境影響，特別是由無線電頻率（Radio Frequency， RF）產(chǎn)生的電磁場引發(fā)的干擾問題。
IEC61000-4-4是電磁兼容性（EMC）標(biāo)準(zhǔn)系列中的一部分，旨在為電氣設(shè)備和系統(tǒng)的抗干擾和防干擾性能提供指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)引用了多個相關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)，旨在確保設(shè)備和系統(tǒng)在電磁環(huán)境中正常運行。GB/T 4365-2003《電工術(shù)語 電磁兼容》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，是IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)在電磁兼容領(lǐng)域的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)之一。
要完成IEC610004的抗擾度測試，可以按照以下步驟進(jìn)行： 選擇合適的測試設(shè)備和配置： 使用AMETEK提供的測試解決方案，該方案結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)化控制軟件和交流電源，能夠輕松完成抗擾度測試。 根據(jù)具體的測試標(biāo)準(zhǔn)，選擇相應(yīng)的交流電源配置選件。
傳導(dǎo)抗擾度試驗失敗的原因主要有以下幾點，以及相應(yīng)的對策：原因： 電纜屏蔽不良：電纜屏蔽層可能存在破損或連接不良，導(dǎo)致干擾信號能夠穿透屏蔽層進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部。 接口濾波不足：設(shè)備接口處的濾波器可能無法有效濾除特定頻率的干擾信號，使得這些信號能夠進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部電路。
在傳導(dǎo)抗擾度測試過程中，有時會出現(xiàn)測試失敗的情況，這可能由多種原因?qū)е?，如設(shè)備對射頻干擾（RFI）的敏感性、測試方法選擇不當(dāng)、接口或電纜的防干擾措施不足等。判定測試失敗的原因并進(jìn)行問題定位是確保測試合格的關(guān)鍵步驟。
總之，傳導(dǎo)抗擾度試驗失敗的對策在于系統(tǒng)性地檢查和改善外部電纜、接口濾波和內(nèi)部電路設(shè)計，以確保設(shè)備對射頻干擾的有效抵御。容測電子的專業(yè)設(shè)備和技術(shù)支持在解決這類問題中發(fā)揮關(guān)鍵作用。
屏蔽 利用導(dǎo)電或?qū)Т挪牧现瞥傻暮袪罨驓钇帘误w，將干擾源或干擾對象包圍起來從而割斷或削弱干擾場的空間耦合通道，阻止其電磁能量的傳輸。按需屏蔽的干擾場的性質(zhì)不同，可分為電場屏蔽、磁場屏蔽和電磁場屏蔽。
⑸布線時避免90度折線，減少高頻噪聲發(fā)射。 ⑹可控硅兩端并接RC抑制電路，減小可控硅產(chǎn)生的噪聲（這個噪聲嚴(yán)重時可能會把可控硅擊穿的）。 切斷干擾傳播路徑的常用措施 ⑴充分考慮電源對單片機(jī)的影響。電源做得好，整個電路的抗干擾就解決了一大半。
本文暫時沒有評論，來添加一個吧(●'?'●)