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器械常識(shí)

電阻率的測試儀,材料電阻率和表面電阻率測試儀的測量原理是什么?

2025-06-22 5:45:50 器械常識(shí) 瀏覽:2次


電阻測試儀的原理

電阻測試儀的原理主要基于四探針法以及直流變換原理。 四探針法: 核心原理:四探針法是測試半導(dǎo)體電阻率的常用方法,其核心在于C系數(shù),這個(gè)系數(shù)影響探針與樣品接觸的精確度。 操作過程:預(yù)熱樣品以排除環(huán)境干擾,連接屏蔽線以減小外部噪聲,對(duì)樣品進(jìn)行細(xì)致處理,確保測試環(huán)境穩(wěn)定。

材料電阻率和表面電阻率測試儀的測量原理是什么?

工作原理是,通過向試樣施加一系列不同電壓等級(jí)的直流電,微弱的電流通過試樣后,會(huì)經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)電阻的取樣并放大,最終在高阻計(jì)上顯示出清晰的讀數(shù)。這款儀器的一大優(yōu)點(diǎn)是其數(shù)字顯示,能夠直接顯示出電阻值,具有極高的精度,反應(yīng)速度迅速,穩(wěn)定性出色,而且讀數(shù)操作簡便,極大地提高了測量效率。

工作原理:測試儀通過施加電流并測量電壓來計(jì)算電阻率。它通常由四個(gè)金屬探針構(gòu)成一字排列,其中兩個(gè)探針作為電流源與電壓測量電極,用于注入電流并測量產(chǎn)生的電壓;其余兩個(gè)探針則用于測量電流和電壓,從而計(jì)算出電阻率。四探針法優(yōu)勢:該方法可以消除接觸電阻的影響,因此具有高精度。

測量原理:表面電阻率的測量基于一定的實(shí)驗(yàn)方法。實(shí)驗(yàn)中,會(huì)在一個(gè)測試樣片上放置兩個(gè)電極,這些電極被設(shè)計(jì)成不接觸材料的主體部分。然后,在電極之間施加一個(gè)已知的電壓,電流會(huì)通過材料表面流動(dòng)。根據(jù)電流和電壓的值,以及測試盒的幾何尺寸決定的常數(shù)KS,可以通過公式σ=KS/V*I計(jì)算出材料的表面電阻率。

電阻測試儀的原理基于四根金屬探針在半導(dǎo)體材料上的作用,形成電流路徑。當(dāng)在1和4兩根探針間施加電流時(shí),會(huì)在2和3兩根探針間產(chǎn)生電位差,通過計(jì)算可得出材料的電阻率。探針系數(shù)C的大小取決于探針的排列方式和距離,是計(jì)算電阻率的必要參數(shù)。儀器操作分為準(zhǔn)備和測試兩個(gè)階段。

材料體積電阻率測試儀技術(shù)指標(biāo)

材料體積電阻率測試儀采用高集成度的3 1/2位數(shù)字顯示,提供直觀、精確的數(shù)據(jù)讀取體驗(yàn)。量程范圍廣泛,涵蓋從1×10^5Ω至999×10^14Ω,滿足不同材料的測試需求。測試電壓靈活,支持DC100V、DC500V,并提供用戶定制選項(xiàng),適應(yīng)多樣化的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。

供電為AC 220V±10% 50/60 Hz,功率為12W。儀器需在23±2℃的溫度、濕度≤65%的環(huán)境中使用,無強(qiáng)電場或強(qiáng)光干擾。設(shè)備的物理規(guī)格包括主機(jī)重量5kg,體積為365×380×160mm。這款測試儀憑借其精準(zhǔn)的性能和易用性,為半導(dǎo)體材料的電阻率測量提供了強(qiáng)大工具。

電源要求為AC 220V±10% 50/60 Hz,功率消耗為12W。使用環(huán)境要求溫度在23±2℃,濕度不超過65%,且無強(qiáng)電場或強(qiáng)光干擾。物理規(guī)格方面,主機(jī)重量為5kg,體積為365×380×160mm。憑借其卓越的性能和用戶友好性,該測試儀已成為半導(dǎo)體材料電阻率測量的有力工具。

給儀器施加10V電壓,15秒后記錄讀數(shù),除非另有要求。如果顯示的電阻值小于0×106Ω,記錄該值并進(jìn)行樣品的測試。如果顯示的電阻值大于或等于:1×106Ω。再給儀器施加電壓,并重復(fù)采用100V的程序。初始施加的測試電壓為10V:——如果Rx≤105Ω,測量值則為結(jié)果。

四探針電阻率/方阻測試儀產(chǎn)品名稱

1、四探針電阻率/方阻測試儀是一款專為半導(dǎo)體材料如硅單晶、鍺單晶和硅片電阻率測量設(shè)計(jì)的精密儀器。它主要由主機(jī)、測試架和四探針頭構(gòu)成,其創(chuàng)新之處在于配置了雙數(shù)字表,一個(gè)用于測量電阻率,另一個(gè)以萬分之幾的精度實(shí)時(shí)監(jiān)控電流變化,確保測量過程的精確性。

2、四探針電阻率/方阻測試儀是針對(duì)半導(dǎo)體材料,如硅單晶、鍺單晶和硅片,設(shè)計(jì)的精密電阻率測量設(shè)備。該設(shè)備的主體部分包括主機(jī)、測試架和四探針頭,其特色在于搭載了雙數(shù)字表設(shè)計(jì)——一個(gè)用于電阻率測量,另一個(gè)用于實(shí)時(shí)監(jiān)控電橋電流,以保證測量的高精度。

3、KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試架及四探針頭組成。

4、市面上的四探針電阻測試儀分為全自動(dòng)和半自動(dòng)兩種。全自動(dòng)設(shè)備能自動(dòng)掃描并實(shí)時(shí)輸出方阻、電阻率等數(shù)據(jù),適合大規(guī)模、高效率的檢測需求,而半自動(dòng)設(shè)備則以性價(jià)比著稱。無論是哪種類型,四探針測試都是保證ITO薄膜性能的關(guān)鍵步驟。

5、四探針法半導(dǎo)體材料電阻/方阻測試儀是一種用于測量半導(dǎo)體材料電阻率及方阻的精密儀器。以下是該測試儀的詳細(xì)概述:工作原理:測試儀通過施加電流并測量電壓來計(jì)算電阻率。

6、測試設(shè)備類型:市面上的四探針電阻測試儀分為全自動(dòng)和半自動(dòng)兩種。全自動(dòng)設(shè)備具有高效、自動(dòng)化的特點(diǎn),適合大規(guī)模、高效率的檢測需求;而半自動(dòng)設(shè)備則具有較高的性價(jià)比,適用于小規(guī)?;蛱囟ㄐ枨蟮臋z測。用戶可以根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的測試設(shè)備。

電阻測試儀主要參數(shù)都有哪些?

1、測試線方面,儀器配備4條標(biāo)準(zhǔn)測試線,長度分別為紅色20m、黑色20m、黃色10m、綠色10m各一條。還配備2條簡易測試線,長度分別為紅色6m、黑色6m各一條。輔助接地棒4根,規(guī)格為φ10mm×150mm。該電阻測試儀具有RS232接口,可連接電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)上傳、存儲(chǔ)和打印。通訊線為RS232通訊線,長度為5m。

2、在市場上,絕緣電阻測試儀的常見規(guī)格主要有以下三種: 型號(hào):BY2671 絕緣電阻測量儀 技術(shù)參數(shù):具有500V、1000V、2000V、2500V四個(gè)電壓等級(jí),量程范圍為20GM。 型號(hào):UT513 絕緣電阻測量儀 技術(shù)參數(shù):具有500V、1000V、2500V、5000V四個(gè)電壓等級(jí),量程范圍為200GM。

3、ZRS系列三相直流電阻測試儀的主要技術(shù)參數(shù)如下:測試電流:單相測試:提供1A、5A、10A、20A和40A多種規(guī)格。三相測試:提供1A、5A、10A和20A的選項(xiàng)。

4、開關(guān)回路電阻測試儀的技術(shù)參數(shù)如下:輸入電壓:AC220V±20%,頻率為50Hz,為設(shè)備提供穩(wěn)定的電源支持。輸出電流:直流DC 0~100A,可連續(xù)調(diào)節(jié),最大測試電流可達(dá)100A,滿足各種測試場景的需求。測量精度:極為精確,達(dá)到0級(jí),分辨能力達(dá)到1μΩ,能夠精確測量電阻值的微小變化。

5、感性負(fù)載直流電阻測試儀的主要參數(shù)如下:使用條件:環(huán)境溫度:0℃至40℃相對(duì)濕度:85%RH以下測量范圍:1mΩ至20mΩ20~200mΩ0.2~2Ω2~20Ω20~200Ω200Ω~2kΩ測試精度:達(dá)到0.2級(jí),最小測量單位1μΩ也能保證高精度。

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