激光粒度儀主要用來測量粉末顆粒的尺寸分布，適用范圍很廣泛，包括但不限于：納米粒子：納米粒子所具有的特性能夠帶來不少好處。粒度測定裝置可確保污染物和團聚物被識別出來并篩檢除去，因此成為確保分散特性非常重要的手段。藥品：粒子越小比表面積越大，溶解越快。
D50值是激光粒度儀馬爾文2000測試數(shù)據(jù)中最具價值的一項指標。它代表了顆粒群的平均粒徑，能夠直觀反映顆粒的大小分布情況。通過D50值，我們可以大致了解樣品的整體粒度特征。例如，在涂料、顏料和化妝品等行業(yè)的應用中，D50值能夠幫助我們判斷產(chǎn)品的分散效果是否良好，進而影響最終產(chǎn)品的性能。
在具體計算過程中，粒徑段的體積比Xi和分段粒徑值di是關(guān)鍵數(shù)據(jù)，通過這些參數(shù)，可以根據(jù)特定的分布規(guī)律，通過編程實現(xiàn)快速計算新的粒度分布。不過，這通常需要具備一定的編程基礎(chǔ)。
馬爾文激光粒度儀的報告分析涉及兩個關(guān)鍵參數(shù)：徑距和一致性。徑距，簡單來說，是通過計算顆粒分布寬度的差異來衡量的，具體公式為（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5），數(shù)值越大，表示顆粒大小的分布越寬廣。這個指標有助于了解樣品中不同顆粒尺寸的范圍。
Xi是粒徑段的體積比。di是分段的粒徑值。d（x，0.5）是d（0.5）.這個跟具體的分布有關(guān)的。按比例搭配的話，按體積比加起來得新的粒度分布，按照以上公式計算咯。沒有簡單的計算方法，如果會編程的話，編個小程序，計算很快的。
殘差是根據(jù)米氏理論，針對選定光學模型，光學參數(shù)和最終結(jié)果計算出的光強數(shù)據(jù)與實際檢測光強的差異。并不是越小越好，0.5與0.8殘差值并不表示0.5的殘差結(jié)果就比0.8的準確，一般認為小于3%都是可以接受的。殘差的用途可以判斷光學參數(shù)是否正常，模型是否準確。
最近，我在測試炭黑粒徑時遇到了不少困難。炭黑的粒徑在15-25納米之間，但我們技術(shù)人員并未親眼見過。炭黑經(jīng)歷了一次結(jié)構(gòu)、聚集體和二次聚集體的形成過程，每一次測量分散粒徑都有差異，電鏡觀察結(jié)果也不盡相同。我們使用馬爾文激光粒徑儀測量時發(fā)現(xiàn)，超聲波時間的長短會顯著影響測量結(jié)果。
篩分法：成本低，但對小于400目的顆粒測量困難，操作復雜，結(jié)果受人為影響。 顯微鏡法：直觀測量，但價格昂貴，主要用于校驗和標定，對形狀和表面形貌研究有優(yōu)勢。 超聲粒度分析：利用聲波衰減測量粒徑，適用于固含量測定，但對非晶材料不適用。 X射線法：晶體材料晶粒估算常用，但粗糙且不適用于非晶材料。
使用ImageJ進行顆粒/粒子統(tǒng)計與粒徑分析的步驟如下：導入圖片：首先，打開ImageJ軟件，導入待分析的顆粒/粒子圖片，這是進行統(tǒng)計分析的基礎(chǔ)。設(shè)定標尺：使用直線工具在圖片上畫出一條已知長度的線。選擇“analyse”“set scale”，在彈出的對話框中設(shè)定已知距離和單位，以確保后續(xù)的測量結(jié)果是準確的。
測粒度分布的方法包括篩分法、沉降法、激光法（如激光衍射式粒度儀、光散射法）和電感法（如庫爾特法）。其中，激光衍射式粒度儀適合粒度大于5μm的樣品，而動態(tài)光散射粒度儀適用于粒徑小于5μm的納米樣品。
分析粒徑分布時，需明確粒徑平均值的計算方式。粒徑平均值標記為d（a、b），其中a與b為數(shù)值，a取值1到4，b取值0到3。b代表的是平均依據(jù)：0為顆粒個數(shù)、1為直徑、2為表面積（直徑的二次方）、3為體積（直徑的三次方）。
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