1、XRF鍍層測(cè)厚儀是一種基于X射線熒光原理的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。其基本原理如下：X射線發(fā)射：XRF鍍層測(cè)厚儀內(nèi)置的X射線源發(fā)射X射線，X射線穿過(guò)待測(cè)涂層并作用于樣品下方的探測(cè)器。
1、涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
2、涂層測(cè)厚儀分為電磁法測(cè)厚儀和渦流法測(cè)厚儀。電磁法測(cè)厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。
3、涂層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量樣品表面涂層或薄膜厚度的設(shè)備，具體測(cè)量方法有以下幾種：磁性測(cè)厚法：適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁涂層厚度測(cè)量，如鋼鐵、銅、鋁等金屬材料上的涂層或薄膜厚度。
涂層測(cè)厚儀分為電磁法測(cè)厚儀和渦流法測(cè)厚儀。電磁法測(cè)厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。
測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用最廣泛的測(cè)厚儀器。
測(cè)量對(duì)象：鍍層測(cè)厚儀主要測(cè)量金屬表面上的鍍層厚度，如鍍金、鍍銀、鍍鎳等。而涂層測(cè)厚儀則主要測(cè)量非金屬表面上的涂層厚度，如油漆、涂料、塑料等。
真尚有涂層測(cè)厚儀利用激光熱輻射傳導(dǎo)時(shí)間原理，可以測(cè)量濕潤(rùn)或干燥的圖層，如可溶性和水基漆，粉狀漆或琺瑯質(zhì)薄膜。這些薄膜可以是涂覆在金屬、橡膠和陶瓷上。測(cè)量頭和被測(cè)表面非接觸測(cè)量，實(shí)時(shí)快捷，允許應(yīng)用在油漆環(huán)境。
1、X熒光鍍層測(cè)厚儀原理是利用X射線熒光技術(shù)，對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量和分析。X熒光鍍層測(cè)厚儀由以下部分組成：X射線源：用于發(fā)射X射線，一般采用旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極靶，其產(chǎn)生的X射線通過(guò)窗口進(jìn)入樣品室。
2、X射線熒光：當(dāng)X射線照射到金屬表面時(shí)，會(huì)與表面的原子發(fā)生相互作用，激發(fā)出原子內(nèi)的電子。被激發(fā)的電子在回到穩(wěn)定軌道時(shí)會(huì)釋放出能量，以X射線熒光的形式釋放出來(lái)。
3、熒光X射線鍍層厚度測(cè)量或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
4、鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。
5、也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。
6、X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
1、紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)：常見(jiàn)品牌有PerkinElmer、Thermo Scientific等，可以用于金屬離子濃度檢測(cè)、薄膜厚度測(cè)量等。 原子吸收光譜儀：常見(jiàn)品牌有Agilent、PerkinElmer、Shimadzu等，可以用于主要元素定量分析。
2、光譜分析儀能檢測(cè)看到肉眼無(wú)法分辨的光譜，如紅外線、微波、紫外線、X射線等；通過(guò)光譜儀測(cè)知物品中含有何種元素；光譜儀可對(duì)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和成分進(jìn)行定量分析和處理；可通過(guò)光探測(cè)器的不同波長(zhǎng)的位置，來(lái)測(cè)量譜線的強(qiáng)度。
3、光譜儀廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、天文學(xué)、汽車、生物、化學(xué)、涂料、色度測(cè)量、環(huán)境監(jiān)測(cè)、膜工業(yè)、食品、印刷、造紙、拉曼光譜、半導(dǎo)體工業(yè)、成分檢測(cè)、混色、匹配等領(lǐng)域。
4、手持式光譜儀主要用于辨認(rèn)金屬、礦石、三元催化材料的化學(xué)成份或者合金牌號(hào)，而由于手持式光譜儀是一體化設(shè)計(jì)，它既能在野外現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè)，又能在材料現(xiàn)場(chǎng)輸出數(shù)據(jù)，方便用戶立刻得到檢測(cè)效果。
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