淺談板階可靠性試驗(yàn)(即加速壽命試驗(yàn))在汽車產(chǎn)業(yè)的應(yīng)用

板階可靠性（Board Level Reliability， BLR）測(cè)試是汽車可靠性驗(yàn)證中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要針對(duì)上板后的焊點(diǎn)可靠性。隨著汽車電子系統(tǒng)越來(lái)越復(fù)雜，IC組件的使用量也不斷增加。BLR測(cè)試通過(guò)快速識(shí)別失效模式，確保IC組件在PCB板上的焊點(diǎn)強(qiáng)度，從而保證產(chǎn)品的壽命。

HAST高加速壽命測(cè)試的流程步驟

HAST高加速壽命測(cè)試流程包括：樣品準(zhǔn)備、試驗(yàn)前準(zhǔn)備、樣品安裝、開(kāi)始測(cè)試、測(cè)試過(guò)程監(jiān)控、測(cè)試結(jié)果分析及后續(xù)處理。樣品準(zhǔn)備階段需選擇符合測(cè)試要求的樣品。試驗(yàn)前準(zhǔn)備涉及對(duì)試驗(yàn)箱檢查、維護(hù)并按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置測(cè)試參數(shù)。樣品安裝要求確保樣品穩(wěn)定且安全地置于試驗(yàn)箱內(nèi)。測(cè)試開(kāi)始后，試驗(yàn)箱模擬高溫高濕環(huán)境加速老化過(guò)程。

HAST測(cè)試條件通常包括溫度、濕度、氣壓和測(cè)試時(shí)間。參考標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱如RK-HAST-350，試驗(yàn)條件通常設(shè)定為130℃、85%RH、230KPa大氣壓，測(cè)試時(shí)間96小時(shí)。測(cè)試過(guò)程中，建議監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫，并確保結(jié)溫不能過(guò)高。定期記錄數(shù)據(jù)，參考《HTOL測(cè)試技術(shù)規(guī)范》進(jìn)行結(jié)溫推算。

功能檢查貫穿試驗(yàn)全過(guò)程，包括外觀檢查和電氣參數(shù)測(cè)試，電氣測(cè)試應(yīng)在常溫恢復(fù)后的48小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。對(duì)于在試驗(yàn)過(guò)程中檢查電氣參數(shù)，應(yīng)盡快測(cè)試，以確保數(shù)據(jù)的有效性。最長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間不應(yīng)超過(guò)96小時(shí)。

試驗(yàn)步驟要求試驗(yàn)裝置的安裝方式使其暴露在規(guī)定的溫度和濕度條件下，避免設(shè)備暴露在導(dǎo)致冷凝的條件下。升溫過(guò)程需要達(dá)到穩(wěn)定溫度和相對(duì)濕度條件的時(shí)間少于3小時(shí)，確保HAST試驗(yàn)箱（干球）溫度始終超過(guò)濕球溫度，且升溫速率不得過(guò)快。在干燥的實(shí)驗(yàn)室中，試驗(yàn)室環(huán)境最初可能比這干燥。

HAST試驗(yàn)箱采用高溫、高濕以及高壓環(huán)境加速濕氣對(duì)產(chǎn)品的侵入，以在較短時(shí)間暴露產(chǎn)品缺陷。通過(guò)將試驗(yàn)箱中的水蒸汽壓力增加到特定溫度和濕度，比試樣內(nèi)部水蒸汽壓力高得多，加快水汽滲透速度。

你知道如何對(duì)開(kāi)關(guān)電源等產(chǎn)品進(jìn)行HALT(高加速壽命試驗(yàn))測(cè)試嗎?

通過(guò)HALT測(cè)試，企業(yè)可以確保開(kāi)關(guān)電源等產(chǎn)品在極端條件下仍能正常工作，提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。在測(cè)試過(guò)程中遵循嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和步驟，可以有效發(fā)現(xiàn)潛在故障，提高產(chǎn)品質(zhì)量。此外，HALT測(cè)試的實(shí)施有助于優(yōu)化設(shè)計(jì)，預(yù)防可能的失效情況，為產(chǎn)品提供更長(zhǎng)期、更可靠的性能保障。

HALT試驗(yàn)，即高加速壽命試驗(yàn)，是一種產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段的試驗(yàn)方法，旨在以較短時(shí)間發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)和工藝缺陷，提升產(chǎn)品可靠性。其特點(diǎn)在于通過(guò)極端環(huán)境模擬，快速暴露產(chǎn)品潛在問(wèn)題。試驗(yàn)過(guò)程包含搭建試驗(yàn)環(huán)境、進(jìn)行各類測(cè)試等步驟。首先，確保試驗(yàn)設(shè)備、測(cè)試設(shè)備、樣品等資源準(zhǔn)備齊全，搭建滿足振動(dòng)應(yīng)力、熱應(yīng)力要求的試驗(yàn)環(huán)境。

高加速壽命測(cè)試（HALT）詳解高加速壽命測(cè)試（HALT），由可靠性專家Gregg.K.Hobbs在1988年提出，是一種通過(guò)施加步進(jìn)應(yīng)力來(lái)提早暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷的測(cè)試方法。其核心在于通過(guò)高強(qiáng)度、非模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境的應(yīng)力，以壓縮的試驗(yàn)時(shí)間找出產(chǎn)品弱點(diǎn)，提高可靠性。

HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，通過(guò)試驗(yàn)，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進(jìn)和驗(yàn)證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅(jiān)固性及可靠性。施加于試品的應(yīng)力，包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開(kāi)關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。

產(chǎn)品在臺(tái)面上的安裝方式；3）監(jiān)測(cè)樣品狀態(tài)的熱電偶和加速度傳感器在產(chǎn)品上的安裝位置及方式；4）確定HALT測(cè)試程式和試驗(yàn)嚴(yán)酷度。（注：HALT試驗(yàn)后，團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)進(jìn)行總結(jié)，討論分析HALT試驗(yàn)中出現(xiàn)的故障，尋找原因，從材料、器件、工藝或線路設(shè)計(jì)等方面制定相應(yīng)的產(chǎn)品改進(jìn)方案。