綜上所述,PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)箱更適合于需要固定濕度和壓力隨溫度變化進(jìn)行測(cè)試的應(yīng)用場(chǎng)景,而HAST試驗(yàn)箱則因其更廣泛的參數(shù)調(diào)節(jié)范圍,適用于需要精確控制溫度、濕度和壓力的復(fù)雜測(cè)試需求。值得注意的是,這兩種試驗(yàn)箱雖然在功能上有所區(qū)別,但它們都是為了幫助研發(fā)人員和質(zhì)量控制人員更好地了解產(chǎn)品在極端環(huán)境下的表現(xiàn),從而提高產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。
在執(zhí)行GB/T34986標(biāo)準(zhǔn)時(shí),需明確以下要點(diǎn):加速老化溫度與濕度設(shè)定、使用環(huán)境的溫度與濕度、產(chǎn)品名稱、尺寸、重量、是否帶電、通電電壓、使用頻率與驗(yàn)證方法等。
PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)箱主要適用于模擬高壓環(huán)境下的老化測(cè)試,其特點(diǎn)是溫度范圍在110℃至133℃之間可調(diào),且濕度固定為100%,壓力則會(huì)根據(jù)溫度的升高而增加。這種試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估電子元器件和材料在高壓環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。相比之下,非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱(HAST)則提供了更為靈活的測(cè)試條件。
PCT老化箱,也被稱為PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),主要用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝的濕氣滲透能力。將待測(cè)產(chǎn)品置于極端的溫度、濕度及壓力環(huán)境中,以觀察濕氣是否會(huì)通過膠體或膠體與導(dǎo)線架之間的縫隙滲透進(jìn)入封裝體。這種測(cè)試常見故障包括主動(dòng)金屬化區(qū)域的腐蝕導(dǎo)致斷路,或是封裝體引腳間的短路等。
綜上所述,PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)箱更適合于需要固定濕度和壓力隨溫度變化進(jìn)行測(cè)試的應(yīng)用場(chǎng)景,而HAST試驗(yàn)箱則因其更廣泛的參數(shù)調(diào)節(jié)范圍,適用于需要精確控制溫度、濕度和壓力的復(fù)雜測(cè)試需求。值得注意的是,這兩種試驗(yàn)箱雖然在功能上有所區(qū)別,但它們都是為了幫助研發(fā)人員和質(zhì)量控制人員更好地了解產(chǎn)品在極端環(huán)境下的表現(xiàn),從而提高產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。
HAST則屬于非飽和型設(shè)備,其靈活性更高,允許用戶調(diào)節(jié)溫度(范圍為70%至100%)、濕度(在70%至100%之間可調(diào))和壓力。HAST不僅能進(jìn)行高溫高濕測(cè)試,還能執(zhí)行高低溫循環(huán)、雙8雙95測(cè)試等,因此被稱為全能型老化測(cè)試設(shè)備。它的主要優(yōu)勢(shì)在于能夠提供更廣泛的測(cè)試條件,滿足不同產(chǎn)品的老化測(cè)試需求。
HAST全稱為Highly Accelerated Stress Test,也是一種加速老化試驗(yàn)的方法。它是在高溫高濕的環(huán)境下進(jìn)行,其加速老化的速度比PCT更快。HAST試驗(yàn)通常用于測(cè)試封裝材料、半導(dǎo)體器件、電子元器件等的性能,檢測(cè)其是否能承受高溫高濕的環(huán)境。
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