涂層測(cè)厚儀是一種利用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層厚度的儀器。其工作原理基于一個(gè)基本的物理現(xiàn)象：當(dāng)探頭接觸鐵磁性材料表面時(shí)，會(huì)形成一個(gè)閉合的磁回路。探頭與涂層之間的距離變化會(huì)導(dǎo)致這個(gè)磁回路的磁阻發(fā)生變化，進(jìn)而影響探頭線圈的電感值。具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)探頭靠近鐵磁性材料時(shí)，其產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì)在材料中形成閉合回路。
1、采用電渦流原理的涂層測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量涂層厚度較為合適。
2、電鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理基于電渦流效應(yīng)。當(dāng)高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中激發(fā)時(shí)，會(huì)形成電磁場(chǎng)。當(dāng)測(cè)頭接近導(dǎo)體時(shí)，會(huì)在導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生渦流，渦流的大小與測(cè)頭與導(dǎo)電基體的距離成反比。渦流的反射阻抗會(huì)隨距離減小而增大，這種反饋效應(yīng)直接反映了覆層厚度的信息。
3、渦流測(cè)厚原理：應(yīng)用高頻交電流在線圈中形成一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與遮蓋層接觸時(shí)，金屬基體上出現(xiàn)電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反應(yīng)作用，經(jīng)過(guò)測(cè)量反應(yīng)作用的大小可導(dǎo)出遮蓋層的厚度。
4、原理：利用放射性同位素發(fā)出的射線，通過(guò)測(cè)量射線在涂鍍層中的衰減情況來(lái)確定涂鍍層的厚度。特點(diǎn)：儀器價(jià)格昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合，如高溫、高壓或強(qiáng)腐蝕環(huán)境下的厚度測(cè)量。綜上所述，漆膜測(cè)厚儀的原理多種多樣，具體選擇哪種方法取決于被測(cè)材料的性質(zhì)、涂鍍層的種類以及測(cè)量精度和成本的要求。
5、漆膜測(cè)厚儀的原理主要包括以下幾種：磁性測(cè)厚原理：適用對(duì)象：主要用于測(cè)量鋼鐵、銀、鎳等導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層的厚度。工作原理：利用磁性傳感器與鐵磁質(zhì)金屬基體之間的相互作用，通過(guò)測(cè)量磁場(chǎng)變化來(lái)確定非鐵磁性涂層的厚度。此方法測(cè)量精度高。
6、磁性測(cè)厚儀通過(guò)磁吸力和磁感應(yīng)兩種原理，磁吸力涂層測(cè)厚儀利用測(cè)頭內(nèi)的磁鐵與基材之間的磁吸力變化來(lái)測(cè)量涂層厚度；磁感應(yīng)涂層測(cè)厚儀通過(guò)測(cè)量磁鐵通過(guò)非磁性涂層流入基材的磁通量來(lái)確定涂層厚度。
X射線測(cè)厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由專用測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。
XRF鍍層測(cè)厚儀是一種基于X射線熒光原理的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。如下圖：其基本原理如下：X射線發(fā)射：XRF鍍層測(cè)厚儀內(nèi)置的X射線源發(fā)射X射線，X射線穿過(guò)待測(cè)涂層并作用于樣品下方的探測(cè)器。X射線熒光反應(yīng)：樣品表面的涂層對(duì)X射線產(chǎn)生熒光反應(yīng)，釋放出特征X射線，特征X射線能量與涂層材料相關(guān)。
大成精密設(shè)備紙張測(cè)厚儀是可以用于測(cè)量紙張厚度的測(cè)量?jī)x器，該儀器采用激光測(cè)量原理進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量精度非常高，紙張測(cè)厚儀是采用激光位移傳感器測(cè)量距離來(lái)實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量的儀器，一般通過(guò)距離測(cè)量的減法原理計(jì)算被測(cè)物的厚度。如圖所示，單測(cè)頭測(cè)厚被測(cè)物厚度H=L0-L1，雙測(cè)頭測(cè)厚被測(cè)物厚度H=L0-L1-L2。
X射線測(cè)厚儀 X熒光光譜儀是一種常見的用于元素分析和化學(xué)分析的儀器，它利用X射線熒光技術(shù)來(lái)測(cè)量樣品中各種元素的含量和化學(xué)組成。在X熒光光譜儀的工作過(guò)程中，X射線源會(huì)產(chǎn)生一定量的X射線，這些X射線的能量較高，可能會(huì)對(duì)人體造成一定的輻射損傷。因此，在使用X熒光光譜儀時(shí)，需要注意輻射安全問(wèn)題。
X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，已達(dá)到要求的軋制厚度。
超聲波測(cè)厚儀在工作時(shí)，其測(cè)量精度與材料的聲速密切相關(guān)。
主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過(guò)試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。
超聲波測(cè)厚儀的使用原理主要是基于超聲波脈沖反射技術(shù)。當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖穿透被測(cè)物體到達(dá)另一材料界面時(shí)，脈沖會(huì)被反射回探頭。通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中的傳播時(shí)間，可以計(jì)算出被測(cè)材料的厚度。
超聲波測(cè)厚儀是采用最新的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。
它的最大優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)安全、可靠及精度高，注冊(cè)商標(biāo)而且它可以巡回在運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。超聲測(cè)厚儀按工作原理分：有共振法、干涉法及脈沖反射法等。幾種，由于脈沖反射法并不涉及共振機(jī)理，與被測(cè)物表面的光潔度關(guān)系不密切，所以超聲波脈沖法測(cè)厚儀是最受用戶歡迎的一種儀表。
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