使用方法：將電池放入電池倉(cāng)內(nèi)，將探頭插入插座。開(kāi)機(jī)：按動(dòng)鍵 1-2秒，待顯示屏顯示：儀器即進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。校準(zhǔn)：將涂有耦合劑的探頭置于儀器頂端標(biāo)準(zhǔn)試塊上，測(cè)得一厚度值，按動(dòng) 鍵，顯示屏顯示：然后再將探頭放在試塊上看出數(shù)是否為0，如是0即校正完畢；如不是再重復(fù)一次。
1、在測(cè)量厚度的模式下，按鍵進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)模式，屏幕提示“校準(zhǔn)薄片ThinCalibration”。 測(cè)量薄片，將測(cè)量值調(diào)整到規(guī)范值，然后按鍵，屏幕提示“校準(zhǔn)厚片ThickCalibration”。 測(cè)量厚片，將測(cè)量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值。 按下校準(zhǔn)鍵，完成兩點(diǎn)校準(zhǔn)。此時(shí)，超聲波測(cè)厚儀即可進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
2、選用與被測(cè)物的資料、聲速及曲率一樣的兩個(gè)規(guī)范試塊，其中一個(gè)試塊的厚度等于或略高于測(cè)量范疇的下限，另一個(gè)試塊的厚度盡可能接近測(cè)量范疇的上限，履行二點(diǎn)校準(zhǔn)可以提升測(cè)量精度. 超聲波測(cè)厚儀履行二點(diǎn)校準(zhǔn)之前應(yīng)先關(guān)掉zui小值捕捉性能。
3、屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。（2）然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration.超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量厚度的狀況下按進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式，屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。測(cè)量薄片，用或調(diào)整測(cè)量值到規(guī)范值，然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration。測(cè)量厚片，用或調(diào)整測(cè)量值到標(biāo)準(zhǔn)值。
EC-2000超聲波測(cè)厚儀支持單次測(cè)量與連續(xù)測(cè)量，具體操作如下：?jiǎn)未螠y(cè)量時(shí)，確保材料表面涂抹耦合劑，將探頭緊密耦合于表面后，即可測(cè)量出厚度。連續(xù)測(cè)量模式下，涂抹耦合劑后，將探頭貼合涂抹部位，沿表面移動(dòng)，儀器實(shí)時(shí)顯示測(cè)量值、最大值、最小值、平均值。當(dāng)面對(duì)未知材料類型及聲速時(shí)，EC-2000超聲波測(cè)厚儀提供反測(cè)聲速功能。
選擇合適的試塊：使用與被測(cè)物材質(zhì)、聲速及曲率相同的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊。其中一個(gè)試塊的厚度應(yīng)等于或略高于測(cè)量范圍的下限，另一個(gè)試塊的厚度應(yīng)盡可能接近測(cè)量范圍的上限，以執(zhí)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)，從而提高測(cè)量精度。 關(guān)閉最小值捕捉功能：在進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)之前，應(yīng)先關(guān)閉最小值捕捉功能。
厚度試塊的清潔 由于使用隨機(jī)試塊對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，需涂耦合劑，所以請(qǐng)注意防銹。使用后將隨機(jī)試塊擦干凈。氣溫較高時(shí)不要沾上汗液。長(zhǎng)期不使用應(yīng)在隨機(jī)試塊表面涂上少許油脂防銹，當(dāng)再次使用時(shí)，將油脂擦凈后，即可進(jìn)行正常工作。
超聲波測(cè)厚儀使用方法首先對(duì)檢驗(yàn)對(duì)象的壁厚進(jìn)行了解，弄清楚壁厚設(shè)計(jì)制造數(shù)據(jù)，然后依據(jù)該數(shù)據(jù)，用標(biāo)準(zhǔn)壁厚塊（隨儀器配置）作精度校正。對(duì)所測(cè)材料點(diǎn)進(jìn)行清潔處理，剃除銹塊。
1、最大誤差在允許值范圍內(nèi)，評(píng)定該超聲波測(cè)厚儀合格并出具校驗(yàn)記錄表，否則應(yīng)進(jìn)行 修理調(diào)試和重新校驗(yàn)。 2 超聲波測(cè)厚儀校驗(yàn)周期為壹年。
2、在測(cè)量厚度的模式下，按鍵進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)模式，屏幕提示“校準(zhǔn)薄片ThinCalibration”。 測(cè)量薄片，將測(cè)量值調(diào)整到規(guī)范值，然后按鍵，屏幕提示“校準(zhǔn)厚片ThickCalibration”。 測(cè)量厚片，將測(cè)量值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)值。 按下校準(zhǔn)鍵，完成兩點(diǎn)校準(zhǔn)。此時(shí)，超聲波測(cè)厚儀即可進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
3、超聲波測(cè)厚儀的兩種校準(zhǔn)方法是，用標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)和聲速校準(zhǔn)兩種，其中標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)又分為一點(diǎn)校準(zhǔn)，兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種。一點(diǎn)校準(zhǔn)是在兩點(diǎn)方法為關(guān)的狀態(tài)下進(jìn)行的，當(dāng)兩點(diǎn)為關(guān)時(shí)候按住CAL/ON鍵，CAL開(kāi)始閃爍，期間使探頭與校準(zhǔn)基準(zhǔn)塊耦合，待耦合指示燈亮，即讀數(shù)穩(wěn)定。此時(shí)顯示值可能與校準(zhǔn)試塊的已知厚度不匹配。
4、屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。（2）然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration.超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量厚度的狀況下按進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式，屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。測(cè)量薄片，用或調(diào)整測(cè)量值到規(guī)范值，然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration。測(cè)量厚片，用或調(diào)整測(cè)量值到標(biāo)準(zhǔn)值。
5、按鍵前往到主顯示界面。屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration. 超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量厚度的狀況下按進(jìn)入兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式，屏幕提示校準(zhǔn)薄片ThinCalibration。測(cè)量薄片。用或調(diào)整測(cè)量值到規(guī)范值。然后按鍵屏幕提示校準(zhǔn)厚片ThickCalibration.測(cè)量厚片。
電渦流式測(cè)厚儀的規(guī)范是JJG 818-1993（試行），而磁阻法測(cè)厚儀的檢定則依據(jù)JJG 889-1995。對(duì)于輪輞用測(cè)厚，有NJ 372-1985標(biāo)準(zhǔn)，而ZB N 13003-1987繼續(xù)關(guān)注搪瓷測(cè)厚儀的技術(shù)要求，而ZB N 77001-1989則明確了超聲測(cè)厚儀的通用技術(shù)條件。
自動(dòng)測(cè)厚儀的技術(shù)指標(biāo)主要包括以下幾點(diǎn)： 測(cè)量范圍 常規(guī)測(cè)量范圍為0至2毫米，但也可選擇更寬的測(cè)量范圍，即0至6毫米。 測(cè)量精度 分辯率高達(dá)0.1微米，確保了測(cè)量結(jié)果的極高精確度。 測(cè)量速度 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量速度為10次每分鐘，但用戶可根據(jù)具體需求進(jìn)行調(diào)整，以適應(yīng)不同的工作節(jié)奏。
一般精度等級(jí)：測(cè)厚儀適用于對(duì)材料的厚度進(jìn)行一般的測(cè)量，常見(jiàn)的精度等級(jí)為0.5% - 0%。 工業(yè)精度等級(jí)：測(cè)厚儀適用于工業(yè)領(lǐng)域?qū)Σ牧线M(jìn)行較為準(zhǔn)確的測(cè)量，常見(jiàn)的精度等級(jí)為0.2% - 0.5%。
1、調(diào)整聲速：按下聲速鍵，調(diào)整聲速到已知材料的聲速 測(cè)量 反測(cè)聲速（有些材料我們不清楚其超聲波的聲速時(shí)使用）：對(duì)一塊已知材料厚度進(jìn)行測(cè)量，如果測(cè)厚儀得到的數(shù)值與實(shí)際不符時(shí)，直接在儀器上調(diào)整讀數(shù)，使其顯示實(shí)際值（這時(shí)實(shí)際調(diào)整的是超聲波的聲速），這時(shí)就得到該材料的超聲波聲速。
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