1、激光測(cè)厚儀的原理是利用光電成像與差動(dòng)式測(cè)量技術(shù),通過激光位移傳感器對(duì)射測(cè)量物體的厚度。具體來說:激光作為測(cè)量媒介:激光測(cè)厚儀使用激光作為測(cè)量的主要媒介,利用其極佳的方向性和亮度構(gòu)建高精度的光學(xué)檢測(cè)體系。激光位移傳感器對(duì)射設(shè)計(jì):激光測(cè)厚儀采用兩臺(tái)準(zhǔn)直對(duì)射的激光位移傳感器,分別從上、下照射待測(cè)的板材。
1、目前,市面上流行的厚度測(cè)量?jī)x主要包括激光測(cè)厚儀、射線測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀。激光測(cè)厚儀由一對(duì)上下對(duì)射的激光測(cè)距傳感器構(gòu)成。在工作過程中,這對(duì)傳感器分別測(cè)量到被測(cè)物體上表面和下表面的距離。通過計(jì)算兩個(gè)傳感器距離之和減去這兩個(gè)距離,就能得出被測(cè)物的厚度。
2、目前常用的厚度測(cè)量?jī)x有三種,激光測(cè)厚儀、射線測(cè)厚儀與超聲波測(cè)厚儀。激光測(cè)厚儀是由上下兩個(gè)對(duì)射的激光測(cè)距傳感器組成的,工作時(shí)上下兩個(gè)傳感器分別測(cè)量傳感器與被測(cè)物上、下表面的距離,用兩個(gè)傳感器之間的總距離減掉兩個(gè)傳感器測(cè)量的距離即可得到被測(cè)物的厚度。
3、紙張厚度測(cè)量?jī)x:專門用于測(cè)量4毫米以下紙張和紙板的厚度,包括各種薄膜等材料。 薄膜厚度測(cè)量?jī)x:精確測(cè)量薄膜和薄片材料的厚度,具有廣泛的測(cè)量范圍、高精度以及多項(xiàng)實(shí)用功能,如數(shù)據(jù)輸出、位置置零、單位轉(zhuǎn)換和自動(dòng)關(guān)機(jī)等。 涂層厚度測(cè)量?jī)x:設(shè)計(jì)用于測(cè)定涂層覆蓋在鐵或非鐵金屬基材上的厚度。
1、測(cè)厚儀分為:X射線測(cè)厚儀、γ射線測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀。他們各有優(yōu)缺點(diǎn),就我目前了解到的情況沒有見到過紅外線的測(cè)厚儀,紅外線也是屬于光的一種,如果有的話應(yīng)該歸屬于激光測(cè)厚儀大類里面,紅外激光是不可見的光,用紅外激光做成的測(cè)厚儀可稱為紅外線測(cè)厚儀。 X射線測(cè)厚儀:有核輻射性、測(cè)量精度高、價(jià)格高、射線可控。
2、非接觸式測(cè)厚儀有X射線測(cè)厚儀、Y射線測(cè)厚儀(主要有鋸和鈍兩種)、超聲波、紅外線和激光測(cè)厚儀。前兩種為放射線測(cè)厚儀,它們是根據(jù)一定能量的射線穿過鋼板時(shí),射線衰減強(qiáng)度與鋼板厚度有一定關(guān)系的原理做成的。射線由射線源發(fā)出后、一般由下而上經(jīng)鋼板吸收一部分,剩下的被檢測(cè)器接受。
3、如果是在光源較弱的或無光源的環(huán)境下使用膜厚儀測(cè)量漏光,例如在暗室或夜晚環(huán)境下,測(cè)量結(jié)果可能會(huì)偏大。因?yàn)榇藭r(shí)沒有其他光線干擾,膜厚儀可以更加準(zhǔn)確地測(cè)量漏光現(xiàn)象。此外,不同的測(cè)量方法也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
4、大成精密設(shè)備紙張測(cè)厚儀是可以用于測(cè)量紙張厚度的測(cè)量?jī)x器,該儀器采用激光測(cè)量原理進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量精度非常高,紙張測(cè)厚儀是采用激光位移傳感器測(cè)量距離來實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量的儀器,一般通過距離測(cè)量的減法原理計(jì)算被測(cè)物的厚度。如圖所示,單測(cè)頭測(cè)厚被測(cè)物厚度H=L0-L1,雙測(cè)頭測(cè)厚被測(cè)物厚度H=L0-L1-L2。
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