導(dǎo)熱系數(shù)測試設(shè)備:有TMA/DILC兩種測試設(shè)備,熱阻測試設(shè)備有:熱阻測試儀。
直接把測試點(diǎn)放在芯片上,測出來的溫度不是結(jié)溫。
T3Ster采用mentor的瞬態(tài)測試儀,符合JEDEC5114標(biāo)準(zhǔn)。該設(shè)備能實(shí)現(xiàn)JEDEC511靜態(tài)測試,具有1μs的采樣率、1μs高速電源切換和最小電壓分辨率12μV。運(yùn)用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析內(nèi)部構(gòu)造,支持多種熱阻測試。
靜態(tài)測試基于T3Ster的實(shí)時(shí)采集,符合JESD51-JESD51-14以及IEC 60747標(biāo)準(zhǔn),適用于熱測試芯片。動(dòng)態(tài)測試則適用于大多數(shù)集成電路器件,包括施加測試電流、測量溫度、切斷電源、再次施加測量電流并測量溫度,根據(jù)結(jié)溫變化計(jì)算得出熱阻。熱阻測量過程需要精確的步驟和計(jì)算,以確保器件在不同環(huán)境和條件下穩(wěn)定運(yùn)行。
T3Ster作為國際標(biāo)準(zhǔn)JESD51-1的瞬態(tài)熱測試儀,由Mentor Graphics公司研發(fā),專門用于測量各類半導(dǎo)體電子器件的熱阻和熱容特性。其優(yōu)勢顯著,具體體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 設(shè)置簡單,操作便捷。T3Ster只需一次接線,一次測試即可獲取穩(wěn)態(tài)結(jié)溫?zé)嶙钄?shù)據(jù),亦可獲取結(jié)溫隨時(shí)間變化的瞬態(tài)曲線。
T3Ster作為一款先進(jìn)的熱特性測試儀器,能在短時(shí)間內(nèi)提供各類封裝的熱特性數(shù)據(jù)。它不僅適用于封裝半導(dǎo)體器件,還能測試PWB、MCPCB等基板的熱特性,通過瞬態(tài)熱測試技術(shù),確保高保真度和無損測量,從而揭示器件的真實(shí)熱性能。
當(dāng)TX為樣品殼溫時(shí),所測得的熱阻即為結(jié)殼熱阻(RθJC)。電學(xué)法熱阻測試首先建立溫敏系數(shù)與溫度的關(guān)系,即進(jìn)行K系數(shù)測量。K系數(shù)是溫度差與電壓差的比值,單位為V/℃。通過控制環(huán)境溫度不變,加恒流使得樣品結(jié)溫上升,施加測試電流測量電壓,利用K系數(shù)推出器件結(jié)溫。
1、T3Ster的瞬態(tài)熱測試技術(shù)具有兩大亮點(diǎn):一是通過電學(xué)法測量溫度敏感參數(shù)變化,實(shí)現(xiàn)非破壞性測溫;二是結(jié)構(gòu)函數(shù)分析法,可同時(shí)獲取穩(wěn)態(tài)和全熱流路徑的熱特性,構(gòu)建器件熱學(xué)模型。
2、設(shè)置簡單,操作便捷。T3Ster只需一次接線,一次測試即可獲取穩(wěn)態(tài)結(jié)溫?zé)嶙钄?shù)據(jù),亦可獲取結(jié)溫隨時(shí)間變化的瞬態(tài)曲線。 數(shù)據(jù)穩(wěn)定,測試結(jié)果復(fù)現(xiàn)性強(qiáng)。采用JESD51-1和JESD51-14標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合最新的熱瞬態(tài)測試界面法,提供高準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,方便比較各種器件的結(jié)殼熱阻,同樣適用于熱界面材料的特性表征。
3、T3Ster采用mentor的瞬態(tài)測試儀,符合JEDEC5114標(biāo)準(zhǔn)。該設(shè)備能實(shí)現(xiàn)JEDEC511靜態(tài)測試,具有1μs的采樣率、1μs高速電源切換和最小電壓分辨率12μV。運(yùn)用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析內(nèi)部構(gòu)造,支持多種熱阻測試。
4、直接把測試點(diǎn)放在芯片上,測出來的溫度不是結(jié)溫。
1、熱阻濕阻測試儀可用于織物、薄膜、涂層、泡沫、皮革及多層復(fù)合材料等的熱阻濕阻測試,如衣物,棉被,保暖服裝的舒適性能的測試,紡織面料人體舒適度測試等。通過模擬人體皮膚產(chǎn)生的熱量和水蒸氣穿透織物的過程,在穩(wěn)定的溫濕度環(huán)境下,測試多種材料的熱阻及濕阻值。
2、溫度范圍及精度方面,儀器可在150°C至500°C之間工作,精度達(dá)到±0.10°C。儀器能夠在≤25S內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),快速響應(yīng)測試需求。熱、濕阻測試范圍廣泛,熱阻Rct為0.002~0m2·K/W,濕阻Ret為5~1000m2·Pa/W,有效覆蓋不同材料的性能評(píng)估。
3、振蕩法是在一定液體中接種細(xì)菌,對(duì)于試樣的吸水性要求不高,對(duì)于纖維,不論是粉末狀或羽絨羽毛,或凹凸不平的織物,任意形狀的試樣都能應(yīng)用,且對(duì)非溶出型和溶出型抗菌織物的測試都非常適用。該測試方法不僅可以測試織物,還可以測試粉狀和顆粒狀材料,以及其它表面處理固體材料。
4、JIS日標(biāo)出口日本的企業(yè)肯定會(huì)應(yīng)用,AATCC ASTM 美國染色師和材料協(xié)會(huì)的標(biāo)準(zhǔn)出口美國肯定會(huì)用到,ISO出口歐洲的肯定會(huì)用到。
1、設(shè)置簡單,操作便捷。T3Ster只需一次接線,一次測試即可獲取穩(wěn)態(tài)結(jié)溫?zé)嶙钄?shù)據(jù),亦可獲取結(jié)溫隨時(shí)間變化的瞬態(tài)曲線。 數(shù)據(jù)穩(wěn)定,測試結(jié)果復(fù)現(xiàn)性強(qiáng)。采用JESD51-1和JESD51-14標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合最新的熱瞬態(tài)測試界面法,提供高準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,方便比較各種器件的結(jié)殼熱阻,同樣適用于熱界面材料的特性表征。 測試范圍廣泛。
2、提升產(chǎn)品可靠性需要提升設(shè)備和元件的耐熱性能,以及優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)。在這個(gè)過程中,獲取器件封裝的熱特性參數(shù)是關(guān)鍵。T3Ster作為一款先進(jìn)的熱特性測試儀器,能在短時(shí)間內(nèi)提供各類封裝的熱特性數(shù)據(jù)。
3、樣品安裝于冷板,確保溫度穩(wěn)定。選擇合適的加熱電流加電使樣品結(jié)溫上升。加熱電流關(guān)閉瞬間施加和測試電流相同的電流,測量并記錄降溫過程的電壓,直到樣品溫度與未加熱前一致。記錄加熱前的功率,利用電壓擬合曲線計(jì)算結(jié)溫變化,與未升溫前的環(huán)境溫度計(jì)算結(jié)溫差,結(jié)合功率得出結(jié)環(huán)熱阻。
DRLIII型導(dǎo)熱系數(shù)測試儀的校準(zhǔn)過程如下:準(zhǔn)備校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品:根據(jù)規(guī)格要求,選取與待校準(zhǔn)儀器測量范圍和性能要求相符的標(biāo)準(zhǔn)樣品。放置校準(zhǔn)樣品:將校準(zhǔn)樣品置于已經(jīng)預(yù)熱好的導(dǎo)熱儀測試臺(tái)面上,并確保其與測試儀器的傳感器緊密接觸。設(shè)備預(yù)熱:打開導(dǎo)熱系數(shù)測試儀的電源開關(guān),進(jìn)行加熱預(yù)熱,確保設(shè)備處于穩(wěn)定工作狀態(tài)。
本儀器主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
常見測試儀器有湘潭湘科DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測試儀、寶島瑞領(lǐng)進(jìn)口熱傳導(dǎo)系數(shù)測試儀器LW-9389等。ASTM D5470標(biāo)準(zhǔn)適用于導(dǎo)熱硅膠片的測試,能較好地模擬實(shí)際使用狀態(tài),適合測量導(dǎo)熱系數(shù)以及接觸熱阻。ASTM-E1461標(biāo)準(zhǔn)采用閃光法(激光閃射法),通過高能量脈沖照射小而薄的試樣,記錄溫度自記曲線,計(jì)算熱擴(kuò)散系數(shù)。
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