1、測(cè)量?jī)x的顯示分辨率精確至0.01μm（1μ），為用戶提供高精度的測(cè)量結(jié)果。取樣長(zhǎng)度（λC）提供了靈活的選擇，包括0.25mm、0.8mm和5mm，以適應(yīng)不同的測(cè)量需求。測(cè)量行程和評(píng)定長(zhǎng)度可選3或5倍取樣長(zhǎng)度，確保全面的表面分析。
按住Start鍵打開儀器，再按住Lt/Lc鍵，選取所需要的取樣長(zhǎng)度和評(píng)定長(zhǎng)度。2將樣塊置于探針針尖下，若高度不夠，可調(diào)節(jié)高度調(diào)節(jié)器。3按下Start鍵，開始測(cè)量。
觸針只在主機(jī)上才顯示0位，如果指示不在0位，你可以在功能設(shè)置里面設(shè)置一下。如果你僅僅是把傳感器摔了，那只能是觸針不在護(hù)套中間（居中）。在量塊上矯正后，如果示值不超過(guò)百分之十，那就可以使用。
．按退出鍵返回；2．進(jìn)入菜單設(shè)置狀態(tài)，增大量程范圍，按退出鍵返回；3．重新測(cè)量。無(wú)測(cè)量數(shù)據(jù) TR200粗糙度儀操作錯(cuò)誤造成測(cè)量失?。?．按退出鍵返回；2．檢查測(cè)量前準(zhǔn)備是否確；3．開機(jī)，重新測(cè)量。A/D芯片錯(cuò)誤 硬件電路故障；方案1：關(guān)機(jī)后再開機(jī)；方案2：按復(fù)位鍵；方案3：返回生產(chǎn)廠維修。
TR200粗糙度儀的技術(shù)參數(shù)如下：主要測(cè)量參數(shù)：Ra、Rz、Ry、Rq、Rt、Rp、Rv、Rmax、R3z、RSk、RS、RSm和Rmr。測(cè)量范圍：Ra：0.025至15微米，顯示范圍0.005至16微米。Rz、Ry、Rt、Rp、Rv、Rmax：0.02至160微米。RS、RSm：1毫米。Rmr：以%Rt表示，最大值為100%。Rsk：量程為0100%。
TR100粗糙度儀校準(zhǔn)主要有以下步驟： 準(zhǔn)備工作：確保粗糙度儀電量充足，處于正常工作狀態(tài)。準(zhǔn)備好標(biāo)準(zhǔn)粗糙度樣塊，樣塊的粗糙度值應(yīng)已知且精度符合要求。 開機(jī)預(yù)熱：打開粗糙度儀電源開關(guān)，讓儀器預(yù)熱一段時(shí)間，使儀器達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)，以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。
TR100粗糙度儀的技術(shù)參數(shù)如下：測(cè)量參數(shù)：Ra：測(cè)量范圍從0.05微米至5微米，用于評(píng)估表面粗糙度。Rz：測(cè)量范圍從0.1微米至50微米，同樣用于評(píng)估表面粗糙度，但側(cè)重于表面峰谷的深度。
粗糙度儀可分為接觸式和非接觸式。接觸式 通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。當(dāng)機(jī)械探針接觸到被測(cè)表面時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)會(huì)記錄下機(jī)械探針的運(yùn)動(dòng)軌跡和力的變化。通過(guò)測(cè)量探針在表面上的運(yùn)動(dòng)和受到的力的變化，可以計(jì)算出表面的形貌參數(shù)。
里氏硬度計(jì)：TH1TH120等型號(hào)涂層測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀粗糙度儀系列，如TR200、TR2TR220以及袖珍式TR系列（TR100、TR110）超聲波探傷儀：TUD系列Tools系列則涵蓋了更廣泛的硬度計(jì)，如手持式里氏硬度計(jì)、邵氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)和維氏硬度計(jì)（TH系列）。
在取樣長(zhǎng)度方面，設(shè)備提供多種選擇，包括0.25毫米、0.8毫米、5毫米、25毫米、4毫米和5毫米，以適應(yīng)不同尺寸的表面測(cè)量。掃描長(zhǎng)度固定在6毫米，確保全面覆蓋測(cè)量區(qū)域。在精度方面，TR100粗糙度儀的示值誤差控制在±15%以內(nèi)，示值變動(dòng)性小于12%，保證測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
粗糙度儀的測(cè)量精度3%，意味著測(cè)量結(jié)果與實(shí)際值的偏差范圍在3%以內(nèi)。 允許誤差5%，指測(cè)量結(jié)果與實(shí)際值的偏差范圍在5%以內(nèi)是被接受的，超出此范圍則視為不合格。 兩者的區(qū)別在于，測(cè)量精度是一個(gè)性能指標(biāo)，表示儀器測(cè)量的準(zhǔn)確性；而允許誤差則是質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)，用來(lái)判斷測(cè)量結(jié)果是否符合要求。
參考對(duì)比樣品 在沒有測(cè)量?jī)x器的情況下，也可以通過(guò)對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)確定物體的粗糙度。這種方法依賴于人的視覺和經(jīng)驗(yàn)判斷，雖然精度可能不如儀器測(cè)量高，但在一些場(chǎng)合仍然具有實(shí)用價(jià)值。通過(guò)對(duì)比不同粗糙度的樣品，可以對(duì)被測(cè)物體的粗糙度有一個(gè)大致的評(píng)估。
精度： 粗糙度測(cè)量?jī)x的精度取決于儀器內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)和電子系統(tǒng)的性能，以及軟件算法的處理能力。 高精度的粗糙度測(cè)量?jī)x能夠確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，反映出工件表面真實(shí)的粗糙度，對(duì)工藝控制、質(zhì)量控制以及產(chǎn)品性能評(píng)估至關(guān)重要。分辨率： 分辨率越高的測(cè)量?jī)x，能夠檢測(cè)到更細(xì)微的表面變化，提供更詳細(xì)的表面信息。
判別規(guī)則通常是根據(jù)測(cè)量得到的粗糙度數(shù)值來(lái)進(jìn)行判斷。一般來(lái)說(shuō)，粗糙度數(shù)值越大，表明表面越粗糙。根據(jù)具體的應(yīng)用領(lǐng)域和要求，可以制定相應(yīng)的粗糙度判別規(guī)則，從而判斷是否符合要求。需要注意的是，不同的應(yīng)用領(lǐng)域和材料可能有不同的粗糙度判別規(guī)則，因此需要根據(jù)具體情況進(jìn)行調(diào)整和適用。
結(jié)果判斷 檢測(cè)完成后，錨紋儀會(huì)生成粗糙度數(shù)值及相關(guān)圖形數(shù)據(jù)。根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)或參照物，對(duì)數(shù)值進(jìn)行分析和判斷。一般來(lái)說(shuō)，粗糙度數(shù)值越小，表面越光滑；數(shù)值越大，表面越粗糙。判斷結(jié)果可以用于工藝控制、質(zhì)量控制等方面。
測(cè)量時(shí)測(cè)針正常接觸工件，避免測(cè)針稍稍接觸工件就開始測(cè)量的情況。 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)塊的條件為 濾波0.8mm，測(cè)量長(zhǎng)度4mm 可以通過(guò)查看測(cè)量結(jié)果中的粗糙度曲線圖形了解測(cè)針情況，一般磨損的測(cè)針測(cè)量圖形會(huì)有缺口。如果測(cè)試結(jié)果還是一樣，表示該測(cè)針已磨損，需換新測(cè)針。
機(jī)械加工件的表面粗糙度檢測(cè)方法多樣，主要包括樣塊對(duì)比法和測(cè)量?jī)x法。樣塊對(duì)比法因其簡(jiǎn)易快捷的特點(diǎn)，在生產(chǎn)檢驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)被廣泛采用，盡管這種方法的精度相對(duì)較低，但它操作簡(jiǎn)便，適合快速判斷表面粗糙度的大致情況。粗糙度測(cè)量?jī)x具備多種稱呼，如粗糙度儀、表面粗糙度儀、粗糙度檢測(cè)儀和表面光潔度儀等。
機(jī)械加工件的表面粗糙度檢測(cè)方法主要有兩種：樣塊對(duì)比法和測(cè)量?jī)x法。樣塊對(duì)比法操作簡(jiǎn)便快捷，但檢測(cè)精度相對(duì)較低，在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)較為常用。這種方法實(shí)際上是通過(guò)目測(cè)的方式，將待測(cè)件與標(biāo)準(zhǔn)樣塊進(jìn)行對(duì)比。另一種方法是使用粗糙度測(cè)量?jī)x。
機(jī)械加工件的表面粗糙度的檢驗(yàn)有多種方法。常用的是樣塊對(duì)比法和測(cè)量?jī)x法。樣塊對(duì)比法簡(jiǎn)單快捷，但精度較低。在生產(chǎn)檢驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)最為常用。實(shí)際上這是一種目測(cè)的方法。
表面粗糙度可以通過(guò)使用粗糙度測(cè)量?jī)x器來(lái)進(jìn)行測(cè)量。常用的測(cè)量方法主要分為接觸式測(cè)量和非接觸式測(cè)量。這兩種方法都可以提供表面粗糙度的數(shù)值和圖像表示。接觸式測(cè)量粗糙度：接觸式測(cè)量粗糙度是通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。
表面粗糙度可以用SJ5730高精度輪廓儀一體機(jī)，或者是用光學(xué)非接觸式測(cè)量-光學(xué)3D表面輪廓儀 （圓柱滾子軸承）軸承滾道直線度和粗糙度 超大風(fēng)電軸承內(nèi)外圈輪廓粗糙度參數(shù)測(cè)量 薄膜粗糙度測(cè)量 形位公差可以用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種高精度的測(cè)量設(shè)備，可以測(cè)量復(fù)雜物體的形狀、尺寸和位置等幾何參數(shù)。
本文暫時(shí)沒有評(píng)論，來(lái)添加一個(gè)吧(●'?'●)