今天小編來(lái)給大家分享一些關(guān)于1臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀四探針電阻率 方阻測(cè)試儀產(chǎn)品名稱(chēng)方面的知識(shí)吧，希望大家會(huì)喜歡哦

1、探針電阻率/方阻測(cè)試儀是一款專(zhuān)為半導(dǎo)體材料如硅單晶、鍺單晶和硅片電阻率測(cè)量設(shè)計(jì)的精密儀器。它主要由主機(jī)、測(cè)試架和四探針頭構(gòu)成，其創(chuàng)新之處在于配置了雙數(shù)字表，一個(gè)用于測(cè)量電阻率，另一個(gè)以萬(wàn)分之幾的精度實(shí)時(shí)監(jiān)控電流變化，確保測(cè)量過(guò)程的精確性。

2、探針電阻率/方阻測(cè)試儀是針對(duì)半導(dǎo)體材料，如硅單晶、鍺單晶和硅片，設(shè)計(jì)的精密電阻率測(cè)量設(shè)備。該設(shè)備的主體部分包括主機(jī)、測(cè)試架和四探針頭，其特色在于搭載了雙數(shù)字表設(shè)計(jì)——一個(gè)用于電阻率測(cè)量，另一個(gè)用于實(shí)時(shí)監(jiān)控電橋電流，以保證測(cè)量的高精度。

3、KDY-1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱(chēng)電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱(chēng)：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。

4、四探針?lè)ò雽?dǎo)體材料電阻/方阻測(cè)試儀主要用于測(cè)量半導(dǎo)體材料（如硅單晶、鍺單晶、硅片等）的電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料的方塊電阻。通過(guò)測(cè)量這些參數(shù)，可以深入了解半導(dǎo)體材料的電學(xué)性能，為半導(dǎo)體器件的研發(fā)和生產(chǎn)提供重要依據(jù)。

5、在實(shí)際應(yīng)用中，高檔STN液晶顯示屏使用的ITO玻璃其方阻約為10歐姆/平方厘米，膜厚在100-200微米，而低檔TN產(chǎn)品則相應(yīng)較高，方阻在100-300歐姆/平方厘米，膜厚更薄。為了精確評(píng)估ITO薄膜的導(dǎo)電性能，四探針電阻測(cè)試儀是一種常用工具。

6、四探針?lè)ò雽?dǎo)體材料電阻/方阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻率及方阻的精密儀器。以下是該測(cè)試儀的詳細(xì)概述：工作原理：測(cè)試儀通過(guò)施加電流并測(cè)量電壓來(lái)計(jì)算電阻率。

四探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

四探針測(cè)試儀具備一系列技術(shù)參數(shù)，以確保精準(zhǔn)測(cè)量。首先，測(cè)量范圍廣泛，包括電阻率在10^-4至10^5Ω.cm之間，方塊電阻覆蓋10^-3至10^6Ω/□，電導(dǎo)率量程為10^-5至10^4s/cm，電阻量程則為10^-4至10^5Ω。

四探針?lè)ㄊ且环N非接觸式測(cè)量方法，通過(guò)施加電流并測(cè)量電壓來(lái)計(jì)算電阻率。測(cè)試儀通常由四個(gè)金屬探針組成，這些探針以一字形排列。在測(cè)量過(guò)程中，其中一個(gè)探針作為電流源，另一個(gè)探針作為電壓測(cè)量電極，另外兩個(gè)探針則用于測(cè)量電流和電壓。通過(guò)精確控制電流源和測(cè)量電壓，可以計(jì)算出半導(dǎo)體材料的電阻率。

技術(shù)參數(shù)方面，測(cè)試儀的測(cè)量范圍廣泛，電阻率可達(dá)0.0001~19000Ω·cm，方塊電阻在0.001~1900Ω·□之間。恒流源輸出電流在0.001~100mA，精度達(dá)到±0.05%。直流數(shù)字電壓表具有10μV的高靈敏度，基本誤差控制在±0.004%讀數(shù)+0.01%滿度。供電為AC220V±10%50/60Hz，功率為12W。

該設(shè)備的核心專(zhuān)利技術(shù)為“微移四探針頭”，其微移率在0.1~0.2%，這大大提升了測(cè)量的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。當(dāng)與HQ-710E數(shù)據(jù)處理器配合使用時(shí)，能夠自動(dòng)進(jìn)行硅片厚度、直徑和探針間距的校正，自動(dòng)計(jì)算并輸出電阻率等數(shù)據(jù)，極大地簡(jiǎn)化了操作流程。

四探針電阻測(cè)試儀的工作原理?

1、四探針電阻測(cè)試儀的工作原理主要基于四探針直線測(cè)量和四探針?lè)綁K測(cè)量。四探針直線測(cè)量：探針布局：四探針測(cè)試儀采用兩對(duì)探針，分別用于注入電流和測(cè)量電壓。電流路徑：通過(guò)交替接觸被測(cè)樣品的不同位置，形成一個(gè)虛擬的電流路徑。

2、四探針測(cè)試原理是基于電流在導(dǎo)體中的分布規(guī)律。當(dāng)四根等間距的探針以一定的壓力垂直壓在被測(cè)樣品上時(shí)，其中兩根探針通以恒定電流I，另外兩根探針則用來(lái)測(cè)量電壓V。根據(jù)電流和電壓的關(guān)系，可以計(jì)算出樣品的電阻率。具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)電流I通過(guò)兩根外探針時(shí)，會(huì)在樣品內(nèi)部形成一個(gè)電流場(chǎng)。

3、方阻測(cè)試儀的工作原理是通過(guò)測(cè)量電阻材料的電壓和電流來(lái)計(jì)算表面電阻。它采用四線法測(cè)量，即使用四條獨(dú)立的測(cè)試線分別連接被測(cè)材料的兩端和電壓測(cè)量點(diǎn)，以消除測(cè)試線本身對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。通過(guò)精確測(cè)量電壓和電流，可以計(jì)算出材料的方塊電阻。

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