測算電鍍層厚度的方法有電解法和使用光譜儀。電解法操作較慢,至少需要半小時,而光譜儀雖然準(zhǔn)確度高,但成本昂貴且攜帶不便。 對于厚度在0.5mm以上的電鍍層,可以使用中科樸道的PD-CT2 plus涂層測厚儀進行測量。例如,在鍍鋅板上,28g/㎡的雙面鍍層顯示為0μm,而14g/㎡的單面鍍層測量也很快捷,準(zhǔn)確性高。
涂層測厚儀偏重于表面覆層的測量。超聲波測厚儀:主要用于測量鋼板、鋼管等基材的厚度,而不是測量涂層和鍍層的厚度。它適合測量所有導(dǎo)聲材料,如鋼、鐵、金屬、塑料、陶瓷、有機玻璃等超聲波的良導(dǎo)體。超聲波測厚儀側(cè)重于壁厚和板厚的基材測量。測量原理 涂層測厚儀:目前最主流的有兩種測量原理,即磁性法和渦流法。
覆層測厚儀和涂層測厚儀的主要區(qū)別在于測量速度、精度和穩(wěn)定性: 測量速度:覆層測厚儀的測量速度比涂層測厚儀快6倍。 精度:覆層測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后,精度可以達到12%,優(yōu)于涂層測厚儀。 穩(wěn)定性:覆層測厚儀的穩(wěn)定性也優(yōu)于涂層測厚儀。
涂層測厚儀和超聲波測厚儀的區(qū)別主要體現(xiàn)在測量范圍、測量方法和測量精度上: 測量范圍:涂層測厚儀主要用于測量金屬上的涂層、防腐層等覆蓋層的厚度;而超聲波測厚儀的測量范圍更廣,包括金屬材質(zhì)、管道、壓力容器、板材以及帶涂層的材料等。
鍍層厚度的測量方法主要有以下幾種: 磁性測厚法 適用對象:主要用于測量導(dǎo)磁材料(如鋼、鐵、銀、鎳)上的非導(dǎo)磁層厚度。特點:測量精度高,是磁性基體上鍍層厚度測量的常用方法。 渦流測厚法 適用對象:適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。
磁性測厚法:適用對象:適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。特點:測量精度高,是常用的鍍層厚度測量方法之一。渦流測厚法:適用對象:適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。特點:較磁性測厚法精度稍低,但仍然是廣泛應(yīng)用的測量方法。電解測厚法:適用對象:適用于需要破壞涂鍍層進行測量的情況。
鍍層測厚儀磁性測厚法:適用層磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。鍍層測厚儀渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。鍍層測厚儀電解測厚法:不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,精度較低,測量起來比較麻煩。
涂鍍層厚度測試方法 金相測厚:適用范圍:適用于厚度超過1μm的金屬膜層測量。原理:使用金相顯微鏡觀察并拍照測量膜層厚度。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 646ISO 146ASTM B487等。X射線熒光測厚:適用范圍:電鍍應(yīng)用中較為穩(wěn)定且費用較低,適合快速測試。
測量鍍層厚度的最佳方法取決于鍍材的尺寸、鍍層及底材的成分等多種因素,以下是一些常用的方法:X射線膜厚儀:適用情況:鍍材尺寸較大,且需要簡便快捷、無損的測量方式。優(yōu)點:測量速度快,無損檢測,適用于多種鍍層材料。前提:需要具備相應(yīng)的X射線膜厚儀設(shè)備。
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