今天小編來給大家分享一些關(guān)于比表面積測(cè)試儀麥克BET含義是什么,有好的國(guó)產(chǎn)儀器推薦嗎 方面的知識(shí)吧，希望大家會(huì)喜歡哦
1、比表面積儀一般又叫物理吸附儀，實(shí)際上測(cè)試樣品的比表面積的本質(zhì)是，通過測(cè)試材料對(duì)于惰性氣體（一般為氮?dú)猓┑奈锢砦搅?，然后結(jié)合計(jì)算模型（一般是BET），計(jì)算出材料的比表面積結(jié)果。BET就是目前用最多，一般作為標(biāo)準(zhǔn)的計(jì)算模型。
2、在BET國(guó)產(chǎn)儀器中，貝士德儀器是一個(gè)值得推薦的品牌。貝士德作為國(guó)內(nèi)專業(yè)比表面及孔徑分析儀生產(chǎn)廠家，具有深厚的技術(shù)積累和豐富的生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)。其旗下的BET相關(guān)產(chǎn)品，如BSD-660系列高通量高性能比表面積及微孔分析儀，具有高精度、高穩(wěn)定性、易操作等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于化工、材料、能源等多個(gè)領(lǐng)域。
3、貝士德儀器是一家專注于吸附表征領(lǐng)域的高科技企業(yè)，其產(chǎn)品與服務(wù)在BET測(cè)試中有著廣泛應(yīng)用。貝士德儀器具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，其產(chǎn)品如BSD-660高性能高通量比表面積及孔徑分析儀，具有高分辨率、高重復(fù)性、高精度等特點(diǎn)，操作簡(jiǎn)便、易用，界面清晰直觀，便于用戶進(jìn)行操作和維護(hù)。
美國(guó)麥克儀器快速比表面積和孔隙度分析儀原理是：物理吸附一般是弱的可逆吸附，因此固體必須被冷卻到氣體的沸點(diǎn)溫度，并且選擇一種理論方法從單分子覆蓋中計(jì)算表面積。比表面和孔隙度分析儀器就是創(chuàng)造相應(yīng)的條件，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜計(jì)算的這樣一種儀器。
全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀BET：進(jìn)行氮?dú)?CO2吸脫附測(cè)試，包括微孔測(cè)試、介孔測(cè)試和全孔測(cè)試等，以獲取材料的比表面積、孔徑分布等關(guān)鍵信息。測(cè)試儀器Micromeritics/麥克默瑞提克-麥克ASAP2460：采用先進(jìn)的MicromeriticsASAP2460全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀進(jìn)行測(cè)試，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
與國(guó)外先進(jìn)粒度儀相比，國(guó)產(chǎn)儀器還存在測(cè)試范圍偏小，制造工藝水平較低，自動(dòng)化智能化水平不高，納米粒度儀和在線等專用粒度儀還是空白等不足。
全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀BET：進(jìn)行氮?dú)?CO2吸脫附測(cè)試，包括微孔測(cè)試、介孔測(cè)試和全孔測(cè)試等，以獲取材料的比表面積、孔徑分布等關(guān)鍵信息。
對(duì)于微孔材料，推薦使用Langmuir方法計(jì)算比表面積。（2）BET值為負(fù)值。BET值應(yīng)為正值，若為負(fù)值，可能原因包括樣品自身問題、樣品量過少或測(cè)試條件不當(dāng)。樣品吸附不足導(dǎo)致BET值接近零或負(fù)值；測(cè)試時(shí)樣品量不足，吸附值過低；脫氣溫度過高或時(shí)間不足，導(dǎo)致孔結(jié)構(gòu)變化或脫氣不完全。（3）S型微孔等溫曲線。
儀器型號(hào)為TriStarII3020，具有廣泛的測(cè)試范圍：孔隙度在5～5000A間，孔徑為2nm～200nm，比表面在0.1~3500m2/g，測(cè)量重復(fù)精度不超過±3%。在送樣時(shí)，需注意以下要求：固體樣品建議為200～1000mg，并置于塑料離心管中。樣品需確保無水分、低分子量有機(jī)物，以避免測(cè)試結(jié)果異常。
在EPR定量時(shí)，需注意規(guī)避各種因素帶來的誤差，以減小測(cè)量誤差。科學(xué)指南針還提供材料測(cè)試服務(wù)，包括XPS、普通XRD、透射電子顯微鏡TEM和全自動(dòng)比表面及孔隙度分析BET。
1、一般情況下，如果樣品在低溫下不吸附氦氣，則應(yīng)該選用氦氣來標(biāo)定冷自由空間，這樣的測(cè)試模式更科學(xué)些。實(shí)驗(yàn)表明，只有極少數(shù)活性炭類微孔樣品會(huì)在低溫下吸附氦氣，絕大多數(shù)樣品在低溫下不會(huì)吸附氦氣。
2、氮?dú)獾葴匚摳角€是實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的直接體現(xiàn)，而比表面積、孔徑分布等數(shù)據(jù)則是基于這些曲線通過特定方法計(jì)算得出的。BET（Brunauer-Emmet-Teller）方法用于處理N2-Sorptionisotherm中p/p0=0.05~0.35之間的一小段數(shù)據(jù)，得到單層吸附量Vm，并據(jù)此算出比表面積。
3、BET比表面積測(cè)試的原理是基于低溫物理吸附。具體來說：吸附質(zhì)與載氣的選擇：BET法通常使用氮?dú)庾鳛槲劫|(zhì)，氦氣或氫氣作為載氣。氮?dú)庠诘蜏叵聲?huì)對(duì)固體樣品發(fā)生物理吸附，而載氣則不發(fā)生吸附。吸附與脫附過程：將氮?dú)馀c載氣按一定比例混合后，達(dá)到指定壓力，流經(jīng)固體樣品。
4、氣體吸附法：原理：依據(jù)氣體在固體表面的吸附特性，通過測(cè)定吸附量來計(jì)算孔徑分布、比表面積和孔體積等參數(shù)。測(cè)試范圍：適用于0.35500nm的孔徑測(cè)試。特點(diǎn)：氮?dú)膺m用于微介孔結(jié)構(gòu)的分析，氬氣和二氧化碳對(duì)極窄微孔具有較高分辨率，氪氣適用于小表面積、小孔體積材料的孔徑測(cè)試。
物理吸附測(cè)試主要涉及氮?dú)?、氬氣、二氧化碳作為吸附劑，測(cè)試項(xiàng)目分為比表面積、介孔全分析與微孔全分析，價(jià)格分別為100元/樣（N2氣氛）、150元/樣（N2氣氛）與320元/樣（N2氣氛）。測(cè)試周期為3-5個(gè)工作日。注意，物理吸附測(cè)試孔徑范圍最大為200nm，超出范圍請(qǐng)謹(jǐn)慎選擇。
BET測(cè)試中常見問題包括儀器原因、樣品原因和測(cè)試前氦氣脫氣不充分，測(cè)試要求涉及樣品處理?xiàng)l件、吸附質(zhì)氣體特性和測(cè)試方法因素。常見問題及原因分析：儀器原因：儀器故障，如電磁閥門的閥芯上有固體顆粒阻礙氣體脫附時(shí)的壓力平衡，可能導(dǎo)致曲線閉合不全。
BET理論發(fā)表于1938年，其正式名稱是多分子層吸附理論，是對(duì)Langmuir理論修正。BET是該理論的三個(gè)提出者姓氏的首字母縮寫。由于BET法適合大部分樣品，目前成為最流行的比表面分析方法。但BET法并不適用于所有樣品，因此按介孔材料的分析方法分析微孔材料時(shí)，由物理吸附分析儀自動(dòng)生成的BET比表面值是錯(cuò)誤的。
1、兩者的區(qū)別在測(cè)試原理、測(cè)試范圍、測(cè)試結(jié)果。測(cè)試原理：麥克介孔測(cè)試主要通過物理吸附法來測(cè)定材料的比表面積和孔徑。全孔測(cè)試是一種更全面的孔徑測(cè)試方法，它通過多種測(cè)試手段（如壓汞法、液體吸附法等）相結(jié)合，全面分析材料的孔徑分布和孔道結(jié)構(gòu)。
2、全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀BET：進(jìn)行氮?dú)?CO2吸脫附測(cè)試，包括微孔測(cè)試、介孔測(cè)試和全孔測(cè)試等，以獲取材料的比表面積、孔徑分布等關(guān)鍵信息。測(cè)試儀器Micromeritics/麥克默瑞提克-麥克ASAP2460：采用先進(jìn)的MicromeriticsASAP2460全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀進(jìn)行測(cè)試，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
3、測(cè)試儀器采用美國(guó)麥克公司3Flex。測(cè)試流程包括樣品室溫穩(wěn)定12小時(shí)后進(jìn)行脫氣處理，滿足要求后轉(zhuǎn)至測(cè)試儀進(jìn)行吸脫附測(cè)量，計(jì)算比表面積、平均孔徑與孔容等信息。表面積計(jì)算結(jié)果可能比實(shí)際值小，特別是對(duì)于不規(guī)則形狀的顆粒，其結(jié)果通過球形或規(guī)則幾何形狀假設(shè)建立。
4、答案：應(yīng)該使用吸附數(shù)據(jù)來計(jì)算平均孔徑。脫附過程中可能會(huì)出現(xiàn)假峰，導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。因此，在多數(shù)情況下，以吸附數(shù)據(jù)為準(zhǔn)更為可靠。如果孔徑超出了介孔分析的有效范圍，可以考慮使用其他分析方法，如壓汞分析。
5、BET值應(yīng)為正值，若為負(fù)值，可能原因包括樣品自身問題、樣品量過少或測(cè)試條件不當(dāng)。樣品吸附不足導(dǎo)致BET值接近零或負(fù)值；測(cè)試時(shí)樣品量不足，吸附值過低；脫氣溫度過高或時(shí)間不足，導(dǎo)致孔結(jié)構(gòu)變化或脫氣不完全。（3）S型微孔等溫曲線。S型回線常見于微孔材料測(cè)試，可能是低壓區(qū)吸附不完全或氦氣污染引起。
本文到這結(jié)束，希望上面文章對(duì)大家有所幫助
本文暫時(shí)沒有評(píng)論，來添加一個(gè)吧(●'?'●)