X射線測厚儀:此類測厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測材料時,X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
游標(biāo)卡尺:可直接測量物體的內(nèi)外徑、長度、深度等,也能精確測量厚度,精度一般可達0.05mm或0.02mm ,常用于機械加工等領(lǐng)域。千分尺:又稱螺旋測微器,測量精度比游標(biāo)卡尺更高,能精確到0.001mm,常用于精密零件的厚度測量,在精密機械制造等行業(yè)應(yīng)用廣泛。
德國尼克斯:以先進技術(shù)和可靠質(zhì)量著稱,其測厚儀具備多種測量原理,可適應(yīng)不同材質(zhì)和測量環(huán)境需求,操作便捷。 美國福祿克:作為知名儀器儀表品牌,福祿克測厚儀性能卓越,在全球市場有較高認可度,尤其在專業(yè)檢測機構(gòu)中應(yīng)用廣泛。
目前,市面上流行的厚度測量儀主要包括激光測厚儀、射線測厚儀和超聲波測厚儀。激光測厚儀由一對上下對射的激光測距傳感器構(gòu)成。在工作過程中,這對傳感器分別測量到被測物體上表面和下表面的距離。通過計算兩個傳感器距離之和減去這兩個距離,就能得出被測物的厚度。
1、以下為十大進口品牌測厚儀相關(guān)介紹 德國EPK:在涂層測厚領(lǐng)域久負盛名,產(chǎn)品精度高、穩(wěn)定性強,廣泛應(yīng)用于汽車、航空等工業(yè)領(lǐng)域,能精準(zhǔn)測量多種涂層厚度。 德國尼克斯:以先進技術(shù)和可靠質(zhì)量著稱,其測厚儀具備多種測量原理,可適應(yīng)不同材質(zhì)和測量環(huán)境需求,操作便捷。
2、Flir(費勒爾):美國品牌,其紅外測厚儀非常著名,適用于需要非接觸式測量的場景。ZEISS(蔡司):德國品牌,以其出色的光學(xué)測厚儀而聞名,適用于對精度要求極高的測量任務(wù)。Mitutoyo(三豐):日本品牌,測厚儀精度高且穩(wěn)定,適用于各種精密測量需求。
3、?,敎y厚儀:作為十大測厚儀品牌之一,?,斠云涓哔|(zhì)量和精確度在市場上享有良好聲譽。泰克曼測厚儀:泰克曼品牌測厚儀同樣以其出色的性能和穩(wěn)定性受到用戶的青睞。華盛昌測厚儀:華盛昌作為知名的儀器儀表品牌,其測厚儀產(chǎn)品具有高精度和多種測量功能。
4、優(yōu)利德:作為十大涂層測厚儀品牌之一,優(yōu)利德以其高質(zhì)量和可靠性在市場上享有盛譽。?,敚合,斖繉訙y厚儀同樣位列十大品牌之中,其產(chǎn)品在精度和穩(wěn)定性方面表現(xiàn)出色。Victor:Victor品牌的涂層測厚儀在業(yè)界也有很高的評價,以其準(zhǔn)確的測量和耐用的設(shè)計而著稱。
5、香港泰克曼(Tekman):推薦型號:TM140超聲波測厚儀特點:泰克曼作為知名的測試儀器品牌,其TM140超聲波測厚儀具有高精度、高穩(wěn)定性以及易于操作的特點。適用于多種材料的厚度測量,包括金屬、塑料、橡膠等。
測量原理概述如下:測量時,將可見光垂直照射在待測薄膜上。部分光線在薄膜表面反射,其余光線穿透薄膜并在薄膜與基片之間的界面反射。這兩部分光線相遇時產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。SpectraThick系列儀器便是利用這種干涉現(xiàn)象來準(zhǔn)確測量薄膜厚度的。該系列儀器采用鎢燈作為光源,提供400 nm至800 nm的波長范圍。
測量原理如下:在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光,這時光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進薄膜,然后在膜與底層 (wafer或glass)之間的界面反射。這時薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。SpectraThick series就是利用這種干涉現(xiàn)象來測量薄膜厚度的儀器。
光學(xué)鍍膜:在光學(xué)鍍膜領(lǐng)域,白光光譜干涉測厚儀可以用于精確控制膜層的折射率和厚度。通過測量膜層的干涉條紋圖像,可以計算出膜層的折射率和厚度值,并根據(jù)需要進行調(diào)整和優(yōu)化。半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體制造過程中,白光光譜干涉測厚儀可以用于監(jiān)測薄膜的厚度和組分等關(guān)鍵參數(shù)。
膜厚儀infi是一種專業(yè)測量薄膜厚度的設(shè)備。它采用高精度的傳感器和電子部件,能夠測量非常薄的膜層厚度,如金屬氧化物、化合物和聚合物。膜厚儀infi廣泛應(yīng)用于電子、光學(xué)、化工等領(lǐng)域,在工藝控制和產(chǎn)品質(zhì)量檢驗上發(fā)揮著重要作用。膜厚儀infi內(nèi)置精確的傳感器,其工作原理基于傳感器測量被測物料的厚度。
超聲角膜測厚儀:簡介:這是目前最常用的一種方法。原理:利用超聲波的反射原理,測量角膜的厚度。優(yōu)點:操作簡便,測量準(zhǔn)確,對角膜無損傷。光學(xué)測量法:簡介:通過光學(xué)原理,利用特定設(shè)備對角膜進行非接觸式測量。特點:無需接觸角膜,減少了感染風(fēng)險,但可能受到角膜表面曲率等因素的影響。
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