1、電壓電容C-V測量單元：基本精度0.5%，測試頻率10Hz~1MHz（可選配至10MHz），支持高壓DC偏置，最大偏置電壓1200V，支持多功能AC性能測試。
1、**觀察曲線形狀**：首先，觀察曲線的整體形狀。理想的線性元件（如純電阻）其IV曲線應為直線，表示電流與電壓成正比。然而，對于芯片等半導體器件，由于存在非線性效應（如PN結），IV曲線往往呈現彎曲形狀，這反映了器件內部的復雜電學行為。 **分析關鍵點**：注意曲線上的關鍵點，如拐點、閾值電壓等。
2、數據整合：將電性能測試（如漏電流、IV曲線）與物性分析結果相結合，驗證失效機理（如電遷移、ESD損傷）。輸出成果：基于分析結果提出改進方案，如工藝優(yōu)化、設計調整或應用條件限制，并跟蹤驗證改進效果。案例：某電源芯片燒毀問題的根因為散熱設計不足，通過改進設計后，良率提升了12%。
3、提高分析效率：失效分析用IV曲線追蹤儀可以在不需要詳細了解IC的所有數據的前提下，通過良品及可疑帶測品的數據比對完成測試，從而大幅度提高篩選及分析工作效率，并保證測試正確性。檢測微漏電現象：在集成電路行業(yè)中，微漏電現象較為普遍，且極端情況下可能會無限放大，造成芯片甚至整個控制系統失效。
4、漏電。iv曲線測試原理芯片在工作中，微漏電現象較為普遍，微弱漏電在極端情況下往往會無限放大，造成芯片甚至整個控制系統失效。蘇州萊科斯公司得出光伏組件特性曲線又叫IV曲線。
5、X-ray/CT：提供芯片的內部透視圖像或模型，幫助分析人員在不破壞樣品的前提下觀測內部結構、空洞缺陷等信息。激光開封：使用高能量激光光束去除芯片表面的封裝材料，為后續(xù)連線或加電測試做好準備。IV曲線追蹤儀：提供芯片的二極管曲線繪制功能，幫助分析人員了解芯片的電氣特性。
6、方法：使用SEM/EDS等檢測儀器對芯片引腳或端子進行檢測，確認是否含鉛，并提供測試數據和報告。原理：隨著環(huán)保要求的提高，現代IC芯片通常采用無鉛封裝。通過檢測芯片引腳或端子中的元素成分，可以判斷芯片是否符合無鉛封裝標準，從而間接判斷其真?zhèn)巍?/p>
提高分析效率：失效分析用IV曲線追蹤儀可以在不需要詳細了解IC的所有數據的前提下，通過良品及可疑帶測品的數據比對完成測試，從而大幅度提高篩選及分析工作效率，并保證測試正確性。檢測微漏電現象：在集成電路行業(yè)中，微漏電現象較為普遍，且極端情況下可能會無限放大，造成芯片甚至整個控制系統失效。
在微電子領域的無損測試中，失效分析用的IV曲線追蹤儀扮演著關鍵角色。這款精密設備以其多功能特性，如快速開路/短路測試、I/V特性分析、靜態(tài)電流測量和高敏感漏電檢測（10μA及以上漏電檢測），在集成電路質量控制中脫穎而出。它特別擅長通過曲線偏差精準定位漏電管腳，為微漏電檢測任務提供了有力支持。
主要應用于芯片篩選和失效分析領域。目前服務以實驗室RA/FA Lab為主，而非直接的產品應用工具。需要注意的是，盡管IV曲線追蹤儀具有諸多優(yōu)勢，但在某些方面仍有提升空間，如在自動化功能和報告編輯的便捷性上，以及在量產測試方面的支持等。
DCT1401 IV曲線追蹤掃描儀采用臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成，支持外掛各類夾具和適配器，通過Prober接口、Handler接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現快速批量化測試。產品能夠實現自動分類存放，適用于“來料檢驗”、“失效分析”、“選型配對”、“量產測試”等不同場景。
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