檢測(cè)鍍鋅層厚度的方法包括電解庫(kù)侖化學(xué)重量法、X射線熒光光譜儀測(cè)量以及使用涂層測(cè)厚儀如PD-CT2 plus。 電解庫(kù)侖化學(xué)重量法操作較慢,至少需要半小時(shí)完成。 光譜儀成本高,起價(jià)至少二十萬(wàn),并且不便攜帶。 當(dāng)基材厚度達(dá)到0.5mm以上時(shí),可以使用PD-CT2 plus涂層測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量。
1、電磁法測(cè)厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀 ,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。
2、涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。鐵基/非鐵基涂層測(cè)厚儀用磁性傳感器測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層。
3、涂層測(cè)厚儀是用于無(wú)損測(cè)量金屬基體或非金屬基體表面涂層厚度的重要工具,在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制和成本控制中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。常見的涂層測(cè)厚儀有渦流測(cè)厚+磁性測(cè)厚的高精度類型及超聲波測(cè)厚儀。渦流測(cè)厚+磁性測(cè)厚的便攜式涂層測(cè)厚儀,其測(cè)量原理包括電渦流測(cè)量和磁性測(cè)量?jī)蓚€(gè)方面。
4、涂層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量液體涂層或油漆噴涂厚度的專業(yè)工具。這種儀器可以非常精確地測(cè)量各種材料表面的涂層厚度,包括膠水。它通過接觸涂層的表面,利用不同的物理原理來(lái)測(cè)量涂層的厚度。 測(cè)量原理:涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理基于不同的技術(shù),如磁性測(cè)量、渦流測(cè)量或超聲波測(cè)量等。
5、漆膜測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量物體表面漆膜厚度的特殊儀器。以下是關(guān)于漆膜測(cè)厚儀的詳細(xì)解釋: 主要功能: 通過對(duì)漆層進(jìn)行非破壞性測(cè)量,得出漆膜的實(shí)際厚度。 應(yīng)用領(lǐng)域: 主要用于汽車制造、金屬表面處理、航空工程等領(lǐng)域,對(duì)保障物體的質(zhì)量、使用壽命及安全性具有重要作用。
1、涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理主要分為磁吸力測(cè)量原理、磁感應(yīng)測(cè)量原理和電渦流測(cè)量原理。以下是每種原理的詳細(xì)解釋及對(duì)應(yīng)的測(cè)量方法:磁吸力測(cè)量原理及方法 原理:磁吸力測(cè)量原理基于磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與兩者之間的距離成一定比例關(guān)系。這個(gè)距離即為覆層的厚度。當(dāng)覆層與基材的導(dǎo)磁率之差較大時(shí),可利用此原理進(jìn)行測(cè)量。
2、X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
3、渦流測(cè)厚+磁性測(cè)厚的便攜式涂層測(cè)厚儀,其測(cè)量原理包括電渦流測(cè)量和磁性測(cè)量?jī)蓚€(gè)方面。在電渦流測(cè)量中,利用高頻交流信號(hào)產(chǎn)生的電磁場(chǎng)與測(cè)頭和導(dǎo)電基體間距離的關(guān)系,反映出涂層的厚度。而在磁性測(cè)量中,則是基于磁阻和磁通量與涂層厚度之間的關(guān)聯(lián),通過檢測(cè)磁通量的大小來(lái)計(jì)算涂層厚度。
4、采用電渦流原理的涂層測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
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