ETEete公司簡介

1、ETE TECHNOLOGY LIMITED，成立于1996年，專注于為全球電子制造業(yè)設(shè)計和制造自動測試設(shè)備及解決方案。

什么是四探針電阻率測試儀?

1、四探針電阻率/方阻測試儀是針對半導(dǎo)體材料，如硅單晶、鍺單晶和硅片，設(shè)計的精密電阻率測量設(shè)備。該設(shè)備的主體部分包括主機、測試架和四探針頭，其特色在于搭載了雙數(shù)字表設(shè)計——一個用于電阻率測量，另一個用于實時監(jiān)控電橋電流，以保證測量的高精度。

2、四探針電阻率/方阻測試儀是一款專為半導(dǎo)體材料如硅單晶、鍺單晶和硅片電阻率測量設(shè)計的精密儀器。它主要由主機、測試架和四探針頭構(gòu)成，其創(chuàng)新之處在于配置了雙數(shù)字表，一個用于測量電阻率，另一個以萬分之幾的精度實時監(jiān)控電流變化，確保測量過程的精確性。

3、四探針電阻率測試儀其實從專業(yè)角度來說，就是高溫四探針測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量軟件。三琦高溫四探針測量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測量需求而設(shè)計的。

4、四探針法半導(dǎo)體材料電阻/方阻測試儀是一種用于測量半導(dǎo)體材料電阻率及方阻的精密儀器。以下是該測試儀的詳細(xì)概述：工作原理：測試儀通過施加電流并測量電壓來計算電阻率。

5、數(shù)字四探針測試儀是一種多用途的綜合測量設(shè)備，其工作原理基于四探針測量法。這款儀器嚴(yán)格遵循單晶硅物理測試方法的國家標(biāo)準(zhǔn)，并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)進行設(shè)計，特別適用于半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻（薄層電阻）的精確測量。它由主機、專用測試臺、四探針探頭和計算機等組件構(gòu)成。

電阻率-導(dǎo)電率測試

粉體電性能包括電導(dǎo)率、介電常數(shù)、界面電阻和熱釋電效應(yīng)等。測試方法有電導(dǎo)率測試、介電常數(shù)測試、界面電阻測試和熱釋電測試。不同材料和測試條件需選擇合適的測試方法，確保測試儀器的精度和準(zhǔn)確性。粉末電阻率的測試方法包括四端法和四探針法。四端法適用于測量低值電阻，通過電壓和電流測量確定電阻值。

電導(dǎo)率測量儀的測量原理是將兩塊平行的極板，放到被測溶液中，在極板的兩端加上一定的電勢（通常為正弦波電壓），然后測量極板間流過的電流。根據(jù)歐姆定律，電導(dǎo)率（G）--電阻（R）的倒數(shù)，由導(dǎo)體本身決定的。電導(dǎo)率的基本單位是西門子（S），原來被稱為歐姆。

電子電導(dǎo)率的測試原理是通過測量電阻率來實現(xiàn)的，主要測試方法包括直流法中的二探針法和四探針法。測試原理： 電子在導(dǎo)體中自由移動形成電流，電導(dǎo)率是衡量物質(zhì)電荷流動能力的度量。通過測量材料的電阻率，可以間接得到其電子電導(dǎo)率。電阻率越小，電子電導(dǎo)率越高，表示電流通過材料越容易。

四探針電導(dǎo)率測試儀可以測金屬和玻璃嗎

1、總結(jié)來說，四探針電導(dǎo)率測試儀對于金屬材料是適用的，但對于玻璃這類非導(dǎo)電材料則不適用。在選擇和使用測試儀器時，用戶應(yīng)參考制造商提供的技術(shù)規(guī)格和適用范圍，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

2、rts8型四探針電導(dǎo)率測試儀不可以測金屬和玻璃。電導(dǎo)率傳感器測試儀是在實驗室、工業(yè)生產(chǎn)和探測領(lǐng)域里，被用來測量超純水、純水、飲用水、污水等各種溶液的電導(dǎo)性或水標(biāo)本整體離子的濃度的傳感器。

3、帶尖頭的鎢針則主要應(yīng)用于各種儀器探針中，以數(shù)字式四探針測試儀為代表。該設(shè)備基于四探針測量原理，成為半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位及高等院校進行半導(dǎo)體材料電阻性能測試的得力助手。其多用途性使得這類設(shè)備在科研與工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。

4、主要用途：主要用于儀器探針，如數(shù)字式四探針測試儀。該設(shè)備適用于半導(dǎo)體材料的電阻性能測試，在半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校等場合有廣泛應(yīng)用。此外，帶尖頭鎢針還用于雕刻金屬表面、膠棉中顆粒的切割和單一顆粒的操作，以及晶胚和玻璃的吹制。

四探針原理|雙電測測量原理

1、雙電測四探針測試儀測量原理基于四探針技術(shù)，采用四探針雙位組合測量，將范德堡測量方法應(yīng)用其中。通過電流探針與電壓探針組合變換進行兩次電測量，最終計算結(jié)果自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距及機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。無需考慮探針間距、樣品尺寸及探針位置，動態(tài)修正不利因素，顯著提升測量準(zhǔn)確度。

2、雙電測四探針測試方法通過巧妙運用電流與電壓探針的組合，實現(xiàn)了對測量結(jié)果中幾何尺寸影響的自動修正，顯著提高了測量精度。這種方法尤其適用于各種形狀的薄膜和片狀材料，無需人工校正探針間距或邊界條件，簡化了測試流程。

3、圖（a）兩探針法原理圖 圖（b）四探針法原理圖 兩探針法測試時，端子置于樣品兩端，輸入交流電壓信號，采集樣品兩端電流，得到樣品電阻；四探針法則通過四根探針置于樣品表面，輸入直流信號，采集探針間電壓信號，計算得到樣品電阻。

4、四探針測試法具備液晶顯示、自動測量、自動量程、自動系數(shù)補償?shù)裙δ埽捎泻懔鬏敵鱿到y(tǒng)，并可選配PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理，支持中文或英文兩種語言操作界面選擇。

5、儀器的工作原理如圖1所示：測試儀的基本原理仍然是恒流源給探針頭（4探針）提供穩(wěn)定的測量電流I（由DVM1監(jiān)測），探針頭（3）探針測取電位差V（由DVM2測量），由下式即可計算出材料的電阻率：厚度小于4倍探針間距的樣片均可按下式計算式中：V——DVM2的讀數(shù)，mV。 I——DVM1的讀數(shù)，mA。

6、重要性：在功率半導(dǎo)體器件的小型化、集成化與大功率發(fā)展趨勢下尤為重要。測試原理：脈沖電流源通過儲能電容放電產(chǎn)生電流脈沖，實現(xiàn)大功率條件下的測試。

四探針應(yīng)用|測試ITO薄膜方阻

1、測試步驟：在使用四探針測試儀測試ITO薄膜方阻時，需要先將薄膜放置在測試臺上，并確保測試區(qū)域干凈、平整。然后，根據(jù)測試儀器的操作說明，設(shè)置測試參數(shù)并啟動測試。測試完成后，儀器會自動輸出測試結(jié)果，包括方阻、電阻率等數(shù)據(jù)。用戶可以根據(jù)這些數(shù)據(jù)判斷ITO薄膜的性能是否符合要求。

2、市面上的四探針電阻測試儀分為全自動和半自動兩種。全自動設(shè)備能自動掃描并實時輸出方阻、電阻率等數(shù)據(jù)，適合大規(guī)模、高效率的檢測需求，而半自動設(shè)備則以性價比著稱。無論是哪種類型，四探針測試都是保證ITO薄膜性能的關(guān)鍵步驟。

3、四探針法測試方阻 通常采用四探針法測量膜電阻的方阻。四個探針接觸電阻膜，排成一條直線，間距相等，約為1毫米。當(dāng)外側(cè)兩條探針通以一恒定電流I時，測量內(nèi)側(cè)兩探針間的電位差U，通過下式可計算出該膜電... 通常采用四探針法測量膜電阻的方阻。四個探針接觸電阻膜，排成一條直線，間距相等，約為1毫米。